參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 氟化鏑純度測(cè)定：主成分DyF?含量≥99.9%（質(zhì)量分?jǐn)?shù)）,，采用差減法計(jì)算總雜質(zhì)含量

2. 雜質(zhì)元素分析：Al、Fe,、Ca等14種金屬雜質(zhì)≤100ppm（μg/g）,，非金屬雜質(zhì)O,、N≤500ppm

3. 晶體結(jié)構(gòu)表征：XRD分析六方晶系（空間群P6?/mmc），晶胞參數(shù)a=3.95?±0.02?,，c=6.82?±0.03?

4. 熱穩(wěn)定性測(cè)試：TG-DSC聯(lián)用測(cè)定分解溫度≥1200℃，熔融溫度1362℃±5℃

5. 粒度分布檢測(cè)：激光衍射法測(cè)定D50=5-20μm（可調(diào)工藝）,，比表面積1-5m2/g

檢測(cè)范圍

1. 高純氟化鏑靶材（純度≥99.99%）：用于真空鍍膜制備紅外光學(xué)元件

2. 核反應(yīng)堆控制棒材料：DyF?-Al復(fù)合材料的成分與密度檢測(cè)

3. 稀土晶體生長(zhǎng)原料：Dy:LiYF?激光晶體的前驅(qū)體質(zhì)量驗(yàn)證

4. 熒光粉添加劑：LED用Dy3+摻雜氟化物基質(zhì)的元素分布分析

5. 特種玻璃原料：氟磷酸鹽玻璃中DyF?的摻入均勻性測(cè)試

檢測(cè)方法

1. GB/T 12690.5-2020《稀土金屬及其氧化物化學(xué)分析方法》第5部分：ICP-MS法測(cè)定雜質(zhì)元素

2. ASTM C1605-18《核級(jí)氟化稀土化學(xué)分析的試驗(yàn)方法》

3. ISO 21078-1:2008《耐火制品中硼(III)氧化物,、氮化物的測(cè)定》擴(kuò)展應(yīng)用于氟含量驗(yàn)證

4. GB/T 4334-2020《金屬材料高溫氧化試驗(yàn)方法》用于熱穩(wěn)定性評(píng)估

5. JY/T 009-2014《轉(zhuǎn)靶多晶體X射線衍射方法通則》進(jìn)行物相鑒定

檢測(cè)設(shè)備

1. Rigaku SmartLab X射線衍射儀：配備HyPix-3000探測(cè)器，θ/θ測(cè)角儀精度±0.0001°

2. Thermo Fisher iCAP RQ ICP-MS：質(zhì)量范圍2-290amu,，檢出限達(dá)ppt級(jí)

3. Netzsch STA 449 F5同步熱分析儀：溫度范圍RT-1550℃,，TG分辨率0.1μg

4. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm，干濕法雙模式

5. Bruker S8 TIGER波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀：Rh靶4kW發(fā)生器,，10μm準(zhǔn)直器

6. Agilent 7900 ICP-OES：垂直炬管設(shè)計(jì),，軸向/徑向觀測(cè)雙模式

7. Shimadzu EDX-7000能量色散光譜儀：50kV銠靶X射線管，Be窗厚度75μm

8. PerkinElmer TGA 4000熱重分析儀：溫度精度±1℃,，最大樣品量150mg

9. Zeiss Sigma 500場(chǎng)發(fā)射電鏡：配備Oxford X-MaxN 80能譜儀

10.Mettler Toledo XPR6U超微量天平：最小稱量值0.6μg,，重復(fù)性±0.25μg

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)