參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 針尖硬度檢測(cè)：維氏硬度（HV）測(cè)試范圍400-1200HV,，載荷500gf-1kgf

2. 幾何尺寸檢測(cè)：尖端角度公差±0.5°，直徑偏差≤±0.01mm

3. 表面粗糙度檢測(cè)：Ra值≤0.2μm（測(cè)量長(zhǎng)度4mm）,，Rz值≤1.6μm

4. 直線度誤差：全長(zhǎng)度≤0.03mm/m（激光干涉儀測(cè)量）

5. 耐磨性測(cè)試：往復(fù)摩擦5000次后尖端磨損量≤5μm

檢測(cè)范圍

1. 金屬加工用高速鋼/硬質(zhì)合金劃線針

2. 半導(dǎo)體晶圓切割專用金剛石劃線針

3. 光學(xué)玻璃雕刻用鎢鋼劃線針

4. PCB板微刻用碳化硅陶瓷劃線針

5. 復(fù)合材料加工用多晶立方氮化硼劃線針

檢測(cè)方法

ASTM E384-22《材料顯微硬度標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》

ISO 3611:2020《幾何產(chǎn)品規(guī)范(GPS) 外徑千分尺》

GB/T 4340.1-2009《金屬材料維氏硬度試驗(yàn)第1部分:試驗(yàn)方法》

ISO 4287:1997《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu):輪廓法術(shù)語(yǔ)定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù)》

GB/T 11336-2004《直線度誤差檢測(cè)》

檢測(cè)設(shè)備

1. Mitutoyo CMM Crysta-Apex S 776：三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（精度0.6+L/400μm）

2. ZwickRoell ZHVμ顯微硬度計(jì)：載荷分辨率1mN

3. Taylor Hobson Form Talysurf i120：表面輪廓儀（垂直分辨率0.8nm）

4. Keyence LM-9000系列激光測(cè)微計(jì)：重復(fù)精度±0.02μm

5. Olympus DSX1000數(shù)碼顯微鏡：光學(xué)放大倍率20-7000X

6. Instron 6800系列萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)：軸向?qū)χ芯取?.5μm

7. Renishaw XL-80激光干涉儀：線性測(cè)量精度±0.5ppm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)