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不加熱型陣列波導光柵檢測

2025-04-03 關鍵詞:不加熱型陣列波導光柵測試機構,不加熱型陣列波導光柵測試周期,不加熱型陣列波導光柵測試標準 相關:
不加熱型陣列波導光柵檢測

不加熱型陣列波導光柵檢測摘要:不加熱型陣列波導光柵(AWG)的檢測需基于精密光學參數(shù)與材料特性分析,,核心指標包括波長精度,、插入損耗及偏振敏感性等,。本文系統(tǒng)梳理了AWG器件的關鍵檢測項目、適用材料范圍,、標準化測試方法及專用設備選型規(guī)范,,為光通信組件質(zhì)量控制提供技術依據(jù),。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。

注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 插入損耗:單通道典型值≤0.8dB@1550nm波段

2. 波長精度:中心波長偏差≤±0.05nm(C波段)

3. 偏振相關損耗(PDL):全通道PDL≤0.15dB

4. 溫度穩(wěn)定性:波長漂移≤±0.02nm/℃(-5℃~70℃)

5. 回波損耗:各端口RL≥45dB

檢測范圍

1. 硅基二氧化硅波導材料(折射率差Δ=0.75%)

2. 聚合物光波導材料(PMMA/SU-8系列)

3. 石英基AWG芯片(通道數(shù)8-64)

4. 光纖陣列耦合模塊(FAU間距127μm/250μm)

5. 集成式光學收發(fā)組件(含AWG復用/解復用功能)

檢測方法

1. ASTM E275-08(2021)光譜分析法測定波長精度

2. ISO/IEC 14763-3:2014光器件插入損耗測試規(guī)程

3. GB/T 18311.31-2022光纖器件環(huán)境試驗方法

4. IEC 61300-3-23:2018偏振相關損耗測量規(guī)范

5. GB/T 15972.40-2021光纖傳輸特性測試標準

檢測設備

1. Yokogawa AQ6370D光譜分析儀(波長范圍600-1700nm)

2. EXFO FTB-5240S-P光功率計(動態(tài)范圍+3~-70dBm)

3. Keysight N7788B偏振控制器(PDL測量分辨率0.01dB)

4. ILX Lightwave FPM-8220溫控平臺(控溫精度±0.1℃)

5. Agilent 81600B可調(diào)諧激光源(線寬≤100kHz)

6. Thorlabs PAX1000偏振分析儀(支持Jones矩陣分析)

7. Anritsu MN9620A多通道同步測試系統(tǒng)

8. OZ Optics MTS-6000光纖對準平臺(定位精度±0.1μm)

北京中科光析科學技術研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期:7~15工作日,,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,,工程師1v1服務,。

中析儀器 資質(zhì)

中析不加熱型陣列波導光柵檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師

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