參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測項(xiàng)目

1. 平面度公差：測量各工作面與理論平面的最大偏離值（典型要求≤0.02mm）

2. 角度偏差：相鄰平面夾角誤差（常規(guī)精度±30"）

3. 表面粗糙度：Ra值范圍0.4-3.2μm（依據(jù)加工等級(jí)）

4. 尺寸公差：長度/寬度/高度偏差（IT6-IT8級(jí)）

5. 棱線直線度：每100mm長度允許偏差≤0.015mm

檢測范圍

1. 金屬切削件：鋁合金/鋼制精密零件

2. 光學(xué)棱鏡：BK7玻璃/石英晶體多面體

3. 塑料模具：注塑模分型面組合體

4. 陶瓷基板：電子封裝用氧化鋁結(jié)構(gòu)件

5. 復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)聚合物構(gòu)件

檢測方法

ISO 12180:2017《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS) 圓柱度和平面度的評(píng)定》

GB/T 1958-2017《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS) 形狀和位置公差 檢測規(guī)定》

ASTM E177-14《幾何尺寸與公差(GD&T)應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)》

ISO 4291:1985《圓度和圓柱度的評(píng)定方法》

GB/T 1804-2000《一般公差 未注公差的線性和角度尺寸的公差》

檢測設(shè)備

1. Hexagon Global S 07.10.07三坐標(biāo)測量機(jī)：空間尺寸測量精度±(1.9+L/250)μm

2. Mitutoyo SJ-410表面粗糙度儀：Ra測量范圍0.01-50μm

3. Renishaw XL-80激光干涉儀：線性測量分辨率0.001μm

4. ZYGO Verifire MST干涉儀：平面度測量精度λ/20（@632.8nm）

5. Wyler Zerotronic電子水平儀：角度測量精度±0.5"

6. Keyence IM-8000圖像尺寸測量儀：重復(fù)精度±0.3μm

7. Mahr Millimar C1216電感測微儀：分辨率0.01μm

8. Tesa Micro-Hite 3D高度規(guī)：Z軸測量精度±(1.5+L/100)μm

9. Optacom Form Talysurf PGI NOVUS輪廓儀：Z軸分辨率0.8nm

10. Nikon NEXIV VMZ-S3020視頻測量系統(tǒng)：光學(xué)放大倍率35X-210X

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)