參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 光柵周期精度：測(cè)量實(shí)際刻線間距與設(shè)計(jì)值的偏差范圍（±0.1 nm）

2. 衍射效率分布：在指定波長(zhǎng)（200-2000 nm）范圍內(nèi)測(cè)試各級(jí)次衍射光強(qiáng)度比

3. 線密度均勻性：全口徑范圍內(nèi)每毫米刻線數(shù)波動(dòng)量（≤±0.05%）

4. 表面粗糙度：工作區(qū)Ra值（≤1 nm）與非工作區(qū)Ra值（≤5 nm）

5. 基底材料折射率：在溫度（20±1℃）下測(cè)定折射率均勻性（Δn≤5×10??）

檢測(cè)范圍

1. 全息光柵：用于高分辨率光譜儀的核心分光元件

2. 刻劃光柵：金屬基底閃耀光柵,，適用于高功率激光系統(tǒng)

3. 透射式衍射光柵：聚合物基材相位光柵

4. 反射式凹面光柵：天文光譜儀用曲面衍射元件

5. 光纖布拉格光柵：通信波段（1260-1625 nm）波長(zhǎng)選擇器件

檢測(cè)方法

ASTM E903-2012 材料光譜反射率標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ISO 10110-8:2020 光學(xué)元件表面質(zhì)量評(píng)定規(guī)范

GB/T 13384-2008 光學(xué)零件技術(shù)要求與檢測(cè)方法

ISO 14999-4:2015 光學(xué)元件波前畸變測(cè)量規(guī)程

GB/T 15972.40-2021 光纖試驗(yàn)方法-幾何參數(shù)

檢測(cè)設(shè)備

1. Zygo NewView 9000干涉儀：表面形貌測(cè)量（分辨率0.1 nm）

2. Bruker Contour Elite測(cè)輪廓儀：臺(tái)階高度測(cè)量（精度±0.5 nm）

3. Ocean Optics HR4000光譜儀：衍射效率測(cè)試（波長(zhǎng)分辨率0.05 nm）

4. Keysight 5500原子力顯微鏡：納米級(jí)表面粗糙度分析

5. Renishaw inVia顯微拉曼系統(tǒng)：材料應(yīng)力分布檢測(cè)

6. Agilent Cary 7000分光光度計(jì)：全波段透/反射率測(cè)量

7. Mitutoyo CMM三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：宏觀尺寸精度驗(yàn)證（±0.1 μm）

8. Thorlabs PAX1000偏振分析儀：偏振相關(guān)損耗測(cè)試

9. Newport自動(dòng)準(zhǔn)直儀：角度定位精度校準(zhǔn)（±1 arcsec）

10. HORIBA LabRAM HR Evolution：薄膜厚度與折射率測(cè)定

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)