參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項(xiàng)目

1.純度測定：總雜質(zhì)含量≤0.05%,，采用ICP-MS進(jìn)行痕量元素分析

2.晶相結(jié)構(gòu)分析：XRD衍射角偏差≤0.02，半峰寬＜0.15

3.元素比例測定：Rb/Si摩爾比1.98-2.02

4.熱穩(wěn)定性測試：TG-DSC聯(lián)用測定相變溫度（8005℃）

5.光學(xué)性能檢測：折射率[email protected]

檢測范圍

1.光學(xué)級硅酸銣單晶基片

2.激光增益介質(zhì)摻雜材料

3.壓電陶瓷前驅(qū)體粉末

4.輻射探測閃爍晶體

5.特種玻璃添加劑

檢測方法

1.ASTME1479-16電感耦合等離子體發(fā)射光譜法

2.ISO20289:2017X射線熒光光譜定量分析

3.GB/T25934.3-2010高純物質(zhì)化學(xué)分析通則

4.ISO18227:2016X射線衍射定量相分析

5.GB/T19421.8-2003晶體光學(xué)均勻性測試

檢測設(shè)備

1.PANalyticalX'Pert3PowderXRD：晶體結(jié)構(gòu)解析精度0.0001nm

2.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES：檢出限達(dá)ppb級

3.NetzschSTA449F5同步熱分析儀：溫度分辨率0.1℃

4.Agilent7900ICP-MS：質(zhì)量數(shù)范圍2-260amu

5.PerkinElmerLambda1050+紫外分光光度計：波長精度0.08nm

6.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測量范圍0.01-3500μm

7.BrukerD8ADVANCEXRD：配備LYNXEYEXE探測器

8.ShimadzuEDX-7000X熒光光譜儀：元素分析范圍B-U

9.MettlerToledoXP205電子天平：重復(fù)性0.015mg

10.ZeissAxioImagerA2m偏光顯微鏡：分辨率0.25μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)