極化軸檢測摘要:極化軸檢測是評估光學元件及機械部件偏振特性與幾何精度的關(guān)鍵質(zhì)量控制環(huán)節(jié),。核心檢測參數(shù)包括軸向偏振角偏差,、同心度誤差及表面粗糙度等指標,,需通過激光干涉儀、偏振分析儀等高精度設備實施測量,。本文依據(jù)ASTM,、ISO及GB/T標準體系,系統(tǒng)闡述工業(yè)級極化軸檢測的技術(shù)規(guī)范與方法論框架,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
1.軸向偏振角偏差:測量范圍0.5,分辨率0.01
2.同心度誤差:公差等級IT5-IT7,,最大允許偏差≤3μm
3.表面粗糙度:Ra0.025-0.4μm,,Rz0.1-1.6μm
4.偏振消光比:動態(tài)范圍30-60dB,波長覆蓋400-1600nm
5.相位延遲量:測試精度λ/[email protected]
1.光學元件:偏振片,、波片,、法拉第旋光器
2.光纖通信器件:保偏光纖連接器、光隔離器
3.半導體材料:鈮酸鋰晶體,、釩酸釔基板
4.醫(yī)療器械:內(nèi)窺鏡光學系統(tǒng),、激光治療儀振鏡
5.航空航天部件:星載偏振相機棱鏡組、慣導系統(tǒng)陀螺儀
1.ASTMD7179:偏振片透射率與消光比測試規(guī)程
2.ISO10110-12:光學元件應力雙折射量化分析方法
3.GB/T11297.11:激光晶體角度偏差干涉測量法
4.ISO14999-4:光學相位延遲量瓊斯矩陣測量技術(shù)
5.GB/T1800.2:幾何公差配合的極坐標測量體系
1.KeysightN7788B偏振分析儀:支持40Gb/s實時偏振態(tài)分析
2.ZygoVerifireMST激光干涉儀:面形精度λ/1000RMS
3.ThorlabsPAX5710UV偏振計:190-1100nm寬譜段測量
4.MitutoyoRA-2200粗糙度儀:16nm分辨率接觸式探針
5.RenishawXL-80激光跟蹤儀:0.5ppm線性測量精度
6.HamamatsuC13534旋光測量系統(tǒng):0.001角度分辨率
7.BrukerContourGT-K光學輪廓儀:0.1nm垂直分辨率
8.Agilent8509C偏振特性測試儀:50MHz-40GHz頻段覆蓋
9.OlympusSTM7測量顯微鏡:700放大倍率帶DIC功能
10.HexagonLeitzPMM-C超高精度三坐標機:MPEE=0.6+L/400μm
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務,。
中析極化軸檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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