參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.位錯線寬度測量：分辨率≤0.2nm,，測量誤差5%以內(nèi)

2.伯格斯矢量模量計算：精度達0.01

3.位錯密度統(tǒng)計：分析區(qū)域≥5μm，密度范圍10?-10/cm

4.應(yīng)力場分布分析：應(yīng)變分辨率110??

5.層錯能關(guān)聯(lián)性驗證：能量計算誤差≤0.5mJ/m

檢測范圍

1.鎳基高溫合金單晶葉片（CMSX-4系列）

2.鈦鋁合金航空緊固件（Ti-6Al-4V）

3.第三代半導(dǎo)體碳化硅晶圓（4H-SiC）

4.核反應(yīng)堆壓力容器鋼（A508-III）

5.形狀記憶合金醫(yī)療器械（NiTiNOL）

檢測方法

1.ASTME112-13晶粒度測定法延伸應(yīng)用

2.ISO25498:2018微束分析-電子背散射衍射法

3.GB/T3949-2021金屬材料位錯密度測定通則

4.ISO24173:2009納米束電子衍射技術(shù)規(guī)范

5.GB/T35031-2018透射電鏡薄膜樣品制備規(guī)程

檢測設(shè)備

1.FEITecnaiG2F20場發(fā)射透射電鏡：配備GatanOriusSC200相機，可實現(xiàn)0.19nm點分辨率

2.JEOLJEM-ARM300F球差校正電鏡：支持原子級位錯核心結(jié)構(gòu)解析

3.BrukerD8DiscoverX射線衍射儀：配置VANTEC-500探測器,，最小光斑尺寸50μm

4.TSLOIMAnalysisv8.0軟件：具備自動位錯密度計算模塊

5.GatanModel691離子減薄儀：支持雙槍傾轉(zhuǎn)樣品制備

6.ZeissCrossbeam550聚焦離子束系統(tǒng)：定位精度50nm的定點制樣

7.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探測器：空間分辨率達3nm

8.Hummer6.2濺射鍍膜機：可控制Pt鍍層厚度1-5nm

9.FischioneModel1020等離子清洗機：保持樣品表面低污染度

10.DigiSTAR旋轉(zhuǎn)傾轉(zhuǎn)樣品臺：傾轉(zhuǎn)范圍70,，定位重復(fù)性0.1

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)