環(huán)狀磁疇檢測摘要:環(huán)狀磁疇檢測是磁性材料性能評估的關(guān)鍵技術(shù)之一,,主要針對閉合磁路結(jié)構(gòu)中的磁疇形態(tài)與動態(tài)特性進行定量分析。核心檢測指標包括疇壁位移量,、磁滯回線閉合度,、局部磁場分布均勻性等參數(shù),。本檢測需結(jié)合高精度磁光成像系統(tǒng)與微區(qū)磁場探針技術(shù),,嚴格遵循IEC60404系列標準及ASTMA937規(guī)范要求。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
1.疇壁寬度測量:分辨率≤10nm,,測量范圍5-50nm
2.閉合磁滯回線測試:磁場強度2T,,精度0.1%FS
3.局部磁場強度分布:空間分辨率1μm,靈敏度10μT
4.動態(tài)翻轉(zhuǎn)特性分析:頻率范圍DC-10MHz
5.熱穩(wěn)定性測試:溫度范圍-196℃~300℃,,溫控精度0.5℃
1.軟磁合金環(huán)狀試樣(硅鋼片,、坡莫合金等)
2.永磁材料環(huán)形元件(釹鐵硼、釤鈷等)
3.薄膜磁性存儲介質(zhì)(CoCrPt系濺射薄膜)
4.納米晶環(huán)形磁芯(Fe基非晶帶材)
5.高頻變壓器環(huán)形磁芯(MnZn鐵氧體材料)
1.ASTMA937-15《環(huán)形試樣磁疇觀測標準方法》
2.ISO21747:2019《磁性材料旋轉(zhuǎn)損耗測試規(guī)程》
3.GB/T13888-2020《磁粉檢測方法》
4.IEC60404-6:2018《軟磁材料環(huán)形試樣測試》
5.GB/T3656-2008《軟磁材料直流磁性能測量方法》
1.QuantumDesignPPMSDynaCool:實現(xiàn)1.9K~400K寬溫域下的高精度磁滯回線測量
2.BrukerDimensionIcon原子力顯微鏡:配備MFM模塊實現(xiàn)50nm級磁疇成像
3.LakeShore8600系列VSM:磁場強度3T,,扭矩分辨率110??Nm
4.OxfordInstrumentsMagLabEXA:12T超導(dǎo)磁體結(jié)合微波頻段動態(tài)測試功能
5.KeysightB2902A精密源表:支持pA級電流測量與μV級電壓分辨率
6.HamamatsuPEM系列磁光成像系統(tǒng):波長532nm/650nm雙光源配置
7.OmicronVT-STM掃描隧道顯微鏡:原子級表面形貌與磁場聯(lián)合分析
8.Agilent4294A阻抗分析儀:40Hz-110MHz頻段復(fù)磁導(dǎo)率測量
9.HitachiHF5000透射電鏡:配備Lorentz模式實現(xiàn)納米級磁疇觀測
10.LinkamTS1500熱臺:-196℃~600℃原位溫度控制平臺
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
中析環(huán)狀磁疇檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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