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介電溫譜檢測(cè)

2025-04-08 關(guān)鍵詞:介電溫譜測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),介電溫譜測(cè)試機(jī)構(gòu),介電溫譜測(cè)試案例 相關(guān):
介電溫譜檢測(cè)

介電溫譜檢測(cè)摘要:介電溫譜檢測(cè)是通過測(cè)量材料在不同溫度下的介電性能變化,,評(píng)估其熱穩(wěn)定性和應(yīng)用可靠性的關(guān)鍵手段,。該檢測(cè)重點(diǎn)關(guān)注介電常數(shù)、損耗角正切等參數(shù)隨溫度變化的規(guī)律,,適用于電子元器件,、功能陶瓷等高精度材料分析。檢測(cè)過程需遵循國(guó)際/國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,,采用寬頻阻抗分析儀等專業(yè)設(shè)備完成數(shù)據(jù)采集與處理,。

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.介電常數(shù)溫度特性:測(cè)量頻率1kHz-1MHz范圍內(nèi)ε'值隨溫度(-60℃~300℃)變化曲線

2.損耗角正切溫度特性:記錄tanδ在-50℃~250℃范圍內(nèi)的波動(dòng)數(shù)據(jù)

3.介電強(qiáng)度溫度依賴性:測(cè)試擊穿場(chǎng)強(qiáng)在20℃~200℃區(qū)間內(nèi)的衰減特性

4.弛豫時(shí)間分布分析:通過Cole-Cole模型擬合獲得τ值隨溫度(25℃~150℃)演變規(guī)律

5.直流電阻率溫度特性:測(cè)量10^6Ωcm~10^14Ωcm量級(jí)電阻值在-40℃~180℃范圍內(nèi)的變化

檢測(cè)范圍

1.微波介質(zhì)陶瓷材料:包括BaTiO3基陶瓷,、ZnO壓敏陶瓷等電子陶瓷體系

2.高分子聚合物材料:涵蓋PI薄膜,、PTFE基板等高頻絕緣材料

3.鐵電/壓電材料:包含PZT陶瓷、PMN-PT單晶等功能材料

4.半導(dǎo)體封裝材料:涉及環(huán)氧模塑料,、硅凝膠等封裝介質(zhì)

5.儲(chǔ)能電容器介質(zhì):包括BOPP薄膜,、納米復(fù)合介質(zhì)等儲(chǔ)能材料

檢測(cè)方法

1.ASTMD150-18:固體電絕緣材料交流損耗特性和電容率標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

2.IEC60250-1969:測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下介電性能的方法

3.GB/T1409-2006:測(cè)量電氣絕緣材料在工頻,、音頻,、高頻下介電性能的推薦方法

4.ISO6721-11:2019:塑料-動(dòng)態(tài)力學(xué)性能測(cè)定-第11部分:玻璃化轉(zhuǎn)變溫度測(cè)定

5.GB/T1693-2007:硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法

檢測(cè)設(shè)備

1.NovocontrolAlpha-A高頻阻抗分析儀:頻率范圍1μHz~20MHz,支持-160℃~400℃溫控

2.Agilent4294A精密阻抗分析儀:40Hz~110MHz測(cè)試帶寬,,基本精度0.08%

3.KeysightE4990A阻抗分析儀:20Hz~120MHz頻率范圍,,內(nèi)置直流偏置功能

4.LinkamTS1500高溫樣品臺(tái):工作溫度范圍-196℃~600℃,控溫精度0.1℃

5.TAInstrumentsDEA2970介電分析儀:多頻掃描模式(0.01Hz~100kHz)

6.NetzschDIL402ExpedisClassic熱膨脹儀:集成介電測(cè)量模塊

7.QuadTech7600精密LCR表:0.01%基本測(cè)量精度,,支持四端對(duì)測(cè)量

8.ESPECSU-261恒溫恒濕箱:溫度范圍-70℃~180℃,,濕度控制10%~98%RH

9.FLUKE1507絕緣電阻測(cè)試儀:測(cè)試電壓50V/100V/250V/500V/1000V可選

10.HIOKIIM3536LCR測(cè)試儀:頻率范圍4Hz~8MHz,支持溫度補(bǔ)償功能

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)

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