參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1.元素含量測定：Fe(0.001-99.9%),、Cu(0.0005-100%)、Al(0.002-99.5%)等68種金屬元素

2.分子結(jié)構(gòu)表征：官能團振動頻率(400-4000cm?),、晶體場分裂能(1.5-3.5eV)

3.光學性能測試：折射率([email protected]),、消光系數(shù)(0-5@550nm)

4.薄膜厚度測量：10nm-50μm范圍（精度0.5nm）

5.缺陷分析：位錯密度(10-10?/cm)、晶界角度(2-30)

檢測范圍

1.金屬材料：鋁合金(AA6061),、不銹鋼(AISI304),、鈦合金(Ti-6Al-4V)等

2.半導體材料：硅晶片(摻雜濃度1e14-1e20/cm)、GaN外延層(厚度2-10μm)

3.玻璃陶瓷：硼硅玻璃(CTE3.2510??/K),、氧化鋯陶瓷(密度6.05g/cm)

4.化工產(chǎn)品：聚乙烯(結(jié)晶度60-85%),、環(huán)氧樹脂(固化度90-99%)

5.生物醫(yī)藥材料：羥基磷灰石涂層(Ca/P比1.67)、膠原蛋白纖維(直徑50-200nm)

檢測方法

1.ASTME1252-17紅外光譜法測定有機化合物標準規(guī)程

2.ISO14707:2015輝光放電光譜表面分析技術(shù)規(guī)范

3.GB/T223.11-2008鋼鐵及合金鉻含量的測定可視分光光度法

4.ASTME3061-17拉曼光譜法定量分析指南

5.GB/T4336-2016碳素鋼和中低合金鋼火花源原子發(fā)射光譜分析法

6.ISO21270:2004X射線光電子能譜表面化學分析標準

檢測設備

1.PerkinElmerLambda950UV-Vis分光光度計（波長范圍175-3300nm）

2.ThermoScientificNicoletiS50FTIR光譜儀（分辨率0.09cm?）

3.HoribaLabRAMHREvolution拉曼系統(tǒng)（空間分辨率250nm）

4.BrukerSENTERRAII顯微共焦拉曼光譜儀（激光波長532/785/1064nm）

5.AgilentCary630FTIR傅里葉變換紅外光譜儀（檢測限0.1%）

6.ShimadzuUV-2600i雙光束分光光度計（帶寬0.1/0.5/1/2/5nm）

7.JascoV-770紫外可見近紅外分光光度計（積分球直徑60mm）

8.OceanInsightFX-VIS-NIR光纖光譜儀（掃描速度10ms/次）

9.MalvernPanalyticalEmpyreanX射線衍射儀（角度精度0.0001）

10.HitachiSU5000場發(fā)射掃描電鏡（分辨率1.0nm@15kV）

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務,。

中析儀器 資質(zhì)