參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1.價帶結(jié)構(gòu)分析：采用X射線光電子能譜（XPS）或紫外光電子能譜（UPS），測量結(jié)合能范圍0-20eV

2.費米能級定位：通過HeIα（21.2eV）激發(fā)源測定金屬/半導(dǎo)體界面能級偏移量

3.電子態(tài)密度分布：利用角分辨光電子能譜（ARPES）測量動量分辨電子態(tài)密度

4.表面功函數(shù)測定：采用開爾文探針力顯微鏡（KPFM）,，分辨率達(dá)1meV

5.缺陷態(tài)表征：通過深能級瞬態(tài)譜（DLTS）分析缺陷能級濃度（10¹⁰-10¹⁴cm^-3）

檢測范圍

1.半導(dǎo)體材料：硅基器件,、III-V族化合物（GaAs,InP等）

2.金屬合金：過渡金屬氧化物薄膜（TiO₂,ZnO）、高溫超導(dǎo)材料

3.納米材料：量子點（CdSe,PbS）,、二維材料（石墨烯,MoS₂）

4.能源材料：鋰離子電池電極材料（LiCoO₂,Si負(fù)極）

5.催化材料：貴金屬催化劑（Pt/C,Pd/Al₂O₃）

檢測方法

1.ASTME1523-15：X射線光電子能譜儀校準(zhǔn)規(guī)范

2.ISO15472:2010：表面化學(xué)分析-X射線光電子能譜儀能量標(biāo)尺校準(zhǔn)

3.GB/T19500-2004：X射線光電子能譜分析方法通則

4.ISO18118:2015：表面化學(xué)分析-俄歇電子能譜和X射線光電子能譜的定量分析

5.GB/T28894-2012：表面化學(xué)分析-俄歇電子能譜和X射線光電子能譜測定峰強度的方法

檢測設(shè)備

1.ThermoScientificESCALABXi+：配備單色化AlKα源（1486.6eV）,，能量分辨率≤0.45eV

2.JEOLJAMP-9500F：場發(fā)射俄歇電子能譜儀（AES）,，束斑尺寸5nm

3.SPECSPHOIBOS150：半球型能量分析器，角度分辨率0.1

4.OmicronArgusCU：紫外光電子能譜系統(tǒng)（UPS）,，HeI/II雙激發(fā)源

5.BrukerDimensionIcon：原子力顯微鏡集成開爾文探針模塊（KPFM）

6.RBDInstrumentsDLTS系統(tǒng)：溫度掃描范圍80-500K,，頻率分辨率0.1Hz

7.ScientaOmicronDA30-L：角分辨光電子能譜儀（ARPES），角度接收范圍30

8.KeysightB1500A半導(dǎo)體分析儀：支持準(zhǔn)靜態(tài)C-V法功函數(shù)測量

9.ULVAC-PHIVersaProbeIV：微區(qū)XPS系統(tǒng),，空間分辨率7.5μm

10.RHKTechnologyR9：低溫STM/XPS聯(lián)合系統(tǒng)（4.2K）,，能量分辨率8meV

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)