參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.化學(xué)成分分析：測(cè)定P?O?（15-25%）,、PbO（10-30%）,、U?O?（5-18%）含量

2.放射性活度：U-238（0.5-3.0Bq/g）、U-235（0.02-0.15Bq/g）同位素測(cè)定

3.晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)：晶胞參數(shù)a=6.830.03,、c=6.380.02

4.物理性質(zhì)測(cè)試：密度（6.8-7.5g/cm）,、莫氏硬度（4.5-5.5）

5.雜質(zhì)元素檢測(cè)：Fe?O?（≤0.8%）、CaO（≤1.2%）,、SiO?（≤2.5%）

檢測(cè)范圍

1.原礦石樣本：未加工磷鉛鈾礦原石及其伴生礦物

2.冶煉副產(chǎn)品：鈾提取工藝產(chǎn)生的廢渣與中間產(chǎn)物

3.工業(yè)廢料：含鈾磷酸鹽肥料生產(chǎn)殘留物

4.地質(zhì)勘探樣品：礦區(qū)鉆孔巖芯與表層土壤樣本

5.環(huán)境監(jiān)測(cè)樣本：礦區(qū)周邊水體及沉積物樣品

檢測(cè)方法

1.X射線熒光光譜法（ASTMC1234/GB/T14506.30-2010）定量主量元素

2.高純鍺γ譜儀法（ISO20042:2019）測(cè)定鈾系放射性核素

3.X射線衍射分析法（ASTMD934-08/GB/T17417.1-2010）解析晶體結(jié)構(gòu)

4.電感耦合等離子體質(zhì)譜法（HJ766-2015）檢測(cè)痕量雜質(zhì)元素

5.α能譜法（EJ/T1075-2017）測(cè)定鈾同位素豐度比

檢測(cè)設(shè)備

1.PANalyticalAxiosMAX波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀（主量元素定量）

2.ThermoFisheriCAPRQ電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ppb級(jí)雜質(zhì)分析）

3.ORTECGEM-C5060高純鍺γ譜儀（放射性核素識(shí)別）

4.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀（晶體結(jié)構(gòu)解析）

5.PerkinElmerNexION350DICP-MS（同位素比值測(cè)定）

6.MettlerToledoXPR206DR微量天平（0.01mg稱量精度）

7.MalvernMastersizer3000激光粒度儀（礦物顆粒分布分析）

8.ShimadzuHMV-G21顯微硬度計(jì)（莫氏硬度測(cè)試）

9.QuantachromeUltrapyc5000真密度分析儀（氦氣置換法密度測(cè)定）

10.CanberraAlphaAnalyst系統(tǒng)（α粒子能譜測(cè)量）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)