參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 體積電阻率：測(cè)量范圍10⁶-10¹⁸Ω·cm（ASTM D257）

2. 表面電阻率：測(cè)試條件500V DC±10%（GB/T 1410）

3. 粒徑分布：D10-D90值測(cè)定（ISO 13320:2020）

4. 介電強(qiáng)度：擊穿電壓≥5kV/mm（IEC 60243-1）

5. 灰分含量：高溫灼燒法（850℃±25℃,，GB/T 9345.1）

檢測(cè)范圍

1. 高分子材料粉末：聚乙烯（PE）,、聚四氟乙烯（PTFE）等聚合物

2. 陶瓷粉末：氧化鋁（Al₂O₃）、氮化硅（Si₃N₄）

3. 礦物粉塵：云母粉,、石英砂（SiO₂含量≥99%）

4. 生物質(zhì)粉末：木質(zhì)纖維素,、淀粉基材料

5. 復(fù)合材料粉塵：玻璃纖維增強(qiáng)塑料（GFRP）加工碎屑

檢測(cè)方法

1. ASTM D257-14：絕緣材料直流電阻測(cè)試規(guī)范

2. ISO 3915:2022：塑料-體積電阻率測(cè)定法

3. GB/T 1692-2008：硫化橡膠絕緣電阻率試驗(yàn)

4. IEC 61340-2-1:2015：靜電防護(hù)材料表面電阻測(cè)量

5. GB/T 19077-2016：粒度分析激光衍射法

檢測(cè)設(shè)備

1. Agilent 4339B高阻計(jì)：測(cè)量范圍10³-10¹⁸Ω

2. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：量程0.01-3500μm

3. HIOKI IR4056絕緣電阻測(cè)試儀：最大電壓1000V DC

4. Netzsch STA 449F3熱重分析儀：灰分測(cè)定精度±0.1%

5. Haug ESD模擬器EN61000-4-2：靜電放電測(cè)試8kV接觸放電

6. ZENAS ZJC-50kV耐壓測(cè)試儀：電壓精度±1% FS

7. Shimadzu EDX-7000 X熒光光譜儀：元素分析范圍Na-U

8. Mettler Toledo XSE105電子天平：稱量精度0.01mg

9. Binder FD115烘箱：溫度均勻性±1℃@200℃

10. Labthink TSY-T1透濕性測(cè)試儀：濕度控制±2%RH

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)