參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 衰減系數(shù)測(cè)試：1310nm/1550nm波長(zhǎng)下≤0.36dB/km（單模），850nm/1300nm波長(zhǎng)下≤3.0dB/km（多模）

2. 幾何尺寸測(cè)量：纖芯直徑125±1μm（單模）,，50/62.5±2.5μm（多模）,；包層直徑245±10μm

3. 抗拉強(qiáng)度試驗(yàn)：≥4.4N（G.652D光纖），斷裂延伸率≥1.0%

4. 溫度循環(huán)試驗(yàn)：-60℃~+85℃循環(huán)20次后衰減變化≤0.05dB/km

5. 折射率分布分析：α剖面指數(shù)誤差≤±0.02（梯度型光纖）

檢測(cè)范圍

1. 單模通信光纖：G.652D/G.657A2等ITU-T標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品

2. 多模漸變光纖：OM3/OM5等級(jí)50/125μm規(guī)格

3. 塑料光纖（POF）：PMMA材質(zhì)芯徑980/1000μm

4. 特種光纖：抗輻射光纖（耐10^6 rad劑量）,、耐高溫光纖（800℃持續(xù)工作）

5. 光纖束組件：醫(yī)用內(nèi)窺鏡光纖束（像素密度≥10,000像素/in2）,、工業(yè)傳像束

檢測(cè)方法

1. ASTM D4566-19《光纖幾何參數(shù)測(cè)試規(guī)程》

2. ISO/IEC 60793-1-40:2019《衰減系數(shù)截?cái)喾y(cè)量》

3. GB/T 15972.30-2021《光纖試驗(yàn)方法 第30部分：機(jī)械性能》

4. IEC 61300-3-35:2015《光纖連接器端面三維形貌檢測(cè)》

5. GB/T 9771.3-2020《通信用單模光纖 第3部分：波長(zhǎng)色散特性》

檢測(cè)設(shè)備

1. OTDR測(cè)試儀：YOKOGAWA AQ1200E（動(dòng)態(tài)范圍45dB，分辨率0.01dB）

2. 幾何參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)：EXFO FGM-200（直徑測(cè)量精度±0.1μm）

3. 光纖拉力試驗(yàn)機(jī)：FITEL S-210（最大負(fù)荷50N,，位移分辨率1μm）

4. 高低溫循環(huán)箱：ESPEC SH-261（溫變速率15℃/min）

5. 折射率分析儀：NR-9200HS（空間分辨率0.25μm）

6. 端面干涉儀：Norland AC3000HD（600萬(wàn)像素CCD）

7. 光譜分析系統(tǒng)：AQ6370D（波長(zhǎng)范圍600-1750nm）

8. 偏振模色散測(cè)試儀：FTB-5500B（測(cè)量范圍0.01-100ps）

9. 微彎損耗測(cè)試臺(tái)：LXM-200A（彎曲半徑5mm±0.1mm）

10. X射線熒光光譜儀：EDX-7000（元素分析精度10ppm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)