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等離子體波長檢測

2025-04-23 關(guān)鍵詞:等離子體波長測試儀器,等離子體波長測試范圍,等離子體波長測試機構(gòu) 相關(guān):
等離子體波長檢測

等離子體波長檢測摘要:等離子體波長檢測是評估等離子體光學(xué)特性的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)之一,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米材料及光學(xué)鍍膜等領(lǐng)域,。檢測核心包括波長范圍,、峰值強度、半峰寬等參數(shù)分析,,需通過高精度光譜儀及標(biāo)準(zhǔn)化測試流程確保數(shù)據(jù)可靠性,。本文重點闡述檢測項目分類、適用材料范圍,、國際/國家標(biāo)準(zhǔn)方法及主流設(shè)備選型依據(jù),。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 等離子體共振峰波長:測量范圍200-1500nm,,精度±0.2nm

2. 半峰全寬(FWHM):分辨率≤1nm,,重復(fù)性誤差<3%

3. 消光系數(shù):測量精度±[email protected]

4. 散射強度分布:角度分辨率0.1°,動態(tài)范圍105:1

5. 時間分辨衰減特性:時間分辨率10ps-10s可調(diào)

檢測范圍

1. 半導(dǎo)體納米線/量子點材料(GaAs,、InP等III-V族化合物)

2. 貴金屬納米顆粒(金/銀/銅納米球/棒/立方體)

3. 光學(xué)薄膜涂層(TiO2/SiO2多層膜系)

4. 等離子體晶體陣列(周期結(jié)構(gòu)超表面)

5. 生物傳感器芯片(表面等離子體共振傳感元件)

檢測方法

ASTM E2721-16 紫外-可見-近紅外光譜反射率標(biāo)準(zhǔn)測試法

ISO 18473-3:2018 納米顆粒光學(xué)特性表征規(guī)范

GB/T 32672-2016 納米材料紫外可見漫反射光譜測試通則

ISO 21254-1:2011 激光誘導(dǎo)擊穿光譜法(LIBS)

GB/T 34879-2017 微區(qū)光譜分析技術(shù)導(dǎo)則

檢測設(shè)備

1. Horiba LabRAM HR Evolution:共焦顯微拉曼光譜系統(tǒng),,空間分辨率200nm

2. Agilent Cary 7000 UV-Vis-NIR:全波段分光光度計,波長精度±0.08nm

3. Malvern Panalytical Zetasizer Ultra:動態(tài)光散射儀,,粒徑檢測下限0.3nm

4. Ocean Insight FX系列光纖光譜儀:積分時間10ms-10min可調(diào)

5. J.A. Woollam M-2000V型橢偏儀:70°入射角測量精度±0.01°

6. Hamamatsu C13027時間相關(guān)單光子計數(shù)器:時間分辨率25ps

7. Bruker Senterra II顯微光譜系統(tǒng):配置532/633/785nm多波長激光源

8. Shimadzu ICPE-9820等離子體發(fā)射光譜儀:波長范圍167-852nm

9. Renishaw inVia Qontor拉曼成像系統(tǒng):共聚焦模式空間分辨率<1μm

10. PerkinElmer Lambda 1050+雙單色器系統(tǒng):雜散光<0.00007%T

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期:7~15工作日,可加急,。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案,。

售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)

中析等離子體波長檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,,請咨詢在線工程師

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