參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 水平軸誤差：測(cè)量軸線與水平面偏差值（≤±2″）

2. 垂直軸靈敏度：軸系轉(zhuǎn)動(dòng)摩擦阻力（≤0.05N·m）

3. 羅盤磁偏角校正：磁針指向與真北偏差（±0.1°）

4. 望遠(yuǎn)鏡視準(zhǔn)軸誤差：視軸與機(jī)械軸偏移量（≤3″）

5. 自動(dòng)補(bǔ)償器精度：補(bǔ)償范圍（±3'）內(nèi)定位誤差（≤0.5″）

檢測(cè)范圍

1. 地質(zhì)勘探用光學(xué)經(jīng)緯儀（Wild T2/Theo 010B系列）

2. 建筑工程電子經(jīng)緯儀（Sokkia DT-540/Leica TPS1200）

3. 礦山測(cè)量陀螺經(jīng)緯儀（Gyromat 5000/GP3-2AK）

4. 軍事測(cè)繪激光經(jīng)緯儀（Trimble S7/Nikon NPL-322+）

5. 船舶導(dǎo)航磁羅經(jīng)（Sperry MK37/Tokimec ES-11）

檢測(cè)方法

1. ISO 17123-3:2021光學(xué)測(cè)量?jī)x器現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)規(guī)程

2. GB/T 3161-2015《工程測(cè)量規(guī)范》軸線偏差測(cè)試方法

3. ASTM E2938-15磁羅經(jīng)實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

4. JJG 414-2016經(jīng)緯儀檢定規(guī)程多位置法

5. DIN 18723-6:2018電子測(cè)角系統(tǒng)對(duì)比法驗(yàn)證

檢測(cè)設(shè)備

1. Leica TS60全站儀：0.5″測(cè)角精度自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)

2. Wild NA2水準(zhǔn)儀：±0.3mm/km補(bǔ)償器驗(yàn)證裝置

3. Fluke 754過程校準(zhǔn)儀：磁傳感器標(biāo)定模塊

4. Trimble S9全站儀：多測(cè)回測(cè)角數(shù)據(jù)采集平臺(tái)

5. Zeiss Ni007數(shù)字自準(zhǔn)直儀：0.1″級(jí)軸線偏差分析儀

6. Agilent 34970A數(shù)據(jù)采集器：溫度漂移補(bǔ)償測(cè)試單元

7. Nikon Nivo C系列電子經(jīng)緯儀：動(dòng)態(tài)角度重復(fù)性測(cè)試臺(tái)

8. Riegl VZ-4000激光掃描儀：三維空間基準(zhǔn)建立系統(tǒng)

9. Honeywell HMR3300磁力計(jì)：地磁場(chǎng)強(qiáng)度模擬裝置

10. Mitutoyo MUMA-W500影像測(cè)量?jī)x：分劃板刻劃精度分析系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)