參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 粒徑分布范圍：測(cè)量10%-90%累積分布對(duì)應(yīng)的粒徑值（D10-D90）

2. D值參數(shù)測(cè)定：D50中位徑值精度±0.5μm

3. 跨度系數(shù)計(jì)算：(D90-D10)/D50 ≤1.5為合格

4. 均勻性指數(shù)：采用Rosin-Rammler方程計(jì)算n值≥0.7

5. 比表面積關(guān)聯(lián)分析：基于BET原理的等效球徑換算

檢測(cè)范圍

1. 金屬粉末：鈦合金/鋁合金3D打印粉末（15-150μm）

2. 陶瓷原料：氧化鋁/碳化硅研磨微粉（0.1-50μm）

3. 制藥顆粒：片劑原料藥顆粒（50-1000μm）

4. 土壤沉積物：地質(zhì)勘探樣品（0.02-2mm）

5. 化工催化劑：分子篩載體顆粒（1-200nm）

檢測(cè)方法

1. 激光衍射法：ASTM B822-20/ISO 13320:2020/GB/T 19077-2016

2. 動(dòng)態(tài)光散射法：ISO 22412:2017納米顆粒測(cè)量

3. 篩分分析法：GB/T 6003.1-2012金屬絲編織網(wǎng)試驗(yàn)篩

4. 圖像分析法：ISO 13322-2:2021靜態(tài)圖像處理技術(shù)

5. 沉降法：GB/T 6524-2003重力沉降光透法

檢測(cè)設(shè)備

1. 馬爾文 Mastersizer 3000：激光衍射儀（0.01-3500μm）

2. 貝克曼庫(kù)爾特 LS 13 320 XR：濕法/干法雙模分析系統(tǒng)

3. 麥奇克 Bettersize2600：全自動(dòng)激光粒度儀（0.02-2600μm）

4. 島津 SALD-7500nano：納米粒度分析儀（7nm-800μm）

5. Retsch AS200 control：電磁驅(qū)動(dòng)振動(dòng)篩分機(jī)（20μm-25mm）

6. Micromeritics Saturn DigiSizer 5200：高分辨率數(shù)字成像系統(tǒng)

7. Sympatec HELOS/KR：動(dòng)態(tài)圖像分析系統(tǒng)（1μm-8750μm）

8. Horiba LA-960V2：全自動(dòng)濕法分散激光粒度儀

9. Brookhaven BI-200SM：動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀（1nm-6μm）

10. Topas TWIN112i：空氣噴射篩分裝置（5μm-4mm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)