壓電晶體檢測(cè)摘要:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所壓電晶體檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 12633-1990等,可進(jìn)行壓電聲波器件,、壓電驅(qū)動(dòng)器件,、壓電電池、壓電陶瓷諧振器等各種樣品介電常數(shù),、熱電系數(shù),、損耗角正切的分析測(cè)試服務(wù)。檢測(cè)周期:常規(guī)到樣后7-15個(gè)工作日出具壓電晶體檢測(cè)報(bào)告,。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
中析研究所可依據(jù)相應(yīng)壓電晶體檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析測(cè)試服務(wù),亦可根據(jù)客戶需求設(shè)計(jì)方案,,為客戶提供非標(biāo)檢測(cè)服務(wù),。壓電晶體檢測(cè)費(fèi)用:樣品初檢后結(jié)合客戶檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià),樣品量大?。壕唧w樣品量需要根據(jù)客戶的檢測(cè)項(xiàng)目來(lái)決定,,詳情您可以咨詢工程師。
壓電系數(shù),、駐極性,、力常數(shù)、諧振頻率,、表面質(zhì)量,、介電常數(shù)、熱電系數(shù),、損耗角正切,、機(jī)械品質(zhì)因數(shù)、阻抗頻率響應(yīng),、變形與電壓關(guān)系,、穩(wěn)定性、電壓常數(shù),、電導(dǎo)率,、破碎場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試等。
壓電晶體檢測(cè)樣品一般包括:壓電陶瓷,、壓電薄膜,、壓電晶體傳感器,、壓電聲波器件、壓電驅(qū)動(dòng)器件,、壓電電池,、壓電陶瓷諧振器、壓電陶瓷濾波器,、壓電陶瓷輸變電設(shè)備,、壓電陶瓷變壓器等。
壓電晶體檢測(cè)涉及的儀器設(shè)備包括:
電壓-位移測(cè)試方法:使用位移傳感器或激光干涉儀等測(cè)量位移的儀器設(shè)備,。
電壓-電荷測(cè)試方法:使用電荷放大器或電荷計(jì)等測(cè)量電荷的儀器設(shè)備。
電壓-力測(cè)試方法:使用力傳感器或負(fù)荷細(xì)胞等測(cè)量力的儀器設(shè)備,。
頻率-振幅測(cè)試方法:使用頻譜分析儀或示波器等測(cè)量振幅和頻率的儀器設(shè)備,。
壓電諧振頻率測(cè)試方法:使用頻譜分析儀或網(wǎng)絡(luò)分析儀等測(cè)量諧振頻率的儀器設(shè)備。
CEI EN 60444-9-2009 石英晶體單元參數(shù)的測(cè)量第9部分:壓電晶體單元寄生諧振的測(cè)量
GB/T 11312-1989 壓電陶瓷材料和壓電晶體聲表面波性能測(cè)試方法
GB/T 12633-1990 壓電晶體性能測(cè)試術(shù)語(yǔ)
GB/T 12634-1990 壓電晶體電彈常數(shù)測(cè)試方法
IEC 60444-9-2007 石英晶體元件參數(shù)的測(cè)量 第9部分:壓電晶體元件的寄生振蕩測(cè)量
JC/T 2148-2012 硅酸鎵鑭壓電晶體
SJ 21562-2020 鉭酸鎵鑭壓電晶體規(guī)范
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