半導(dǎo)體噪聲測試摘要:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所可進(jìn)行晶體管,、整流器,、放大器、模擬集成電路,、數(shù)字集成電路,、傳感器,、電源、混頻器等各種樣品幅度,、頻譜,、帶寬,、功率譜的分析測試服務(wù)。檢測周期:常規(guī)到樣后7-15個(gè)工作日出具半導(dǎo)體噪聲測試報(bào)告,。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
中析研究所可依據(jù)相應(yīng)半導(dǎo)體噪聲測試標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行分析測試服務(wù),亦可根據(jù)客戶需求設(shè)計(jì)方案,,為客戶提供非標(biāo)檢測服務(wù),。半導(dǎo)體噪聲測試費(fèi)用:樣品初檢后結(jié)合客戶檢測需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià),樣品量大?。壕唧w樣品量需要根據(jù)客戶的檢測項(xiàng)目來決定,,詳情您可以咨詢工程師。
噪聲譜密度,、系數(shù),、指標(biāo)、溫度,、功率、相關(guān),、幅度,、頻譜、帶寬,、功率譜,、相位、時(shí)域,、頻域測量等,。
半導(dǎo)體噪聲測試樣品一般包括:
器件樣品:晶體管、二極管,、集成電路,、功率放大器、運(yùn)算放大器,、傳感器,、光電器件等。
光學(xué)器件樣品:激光二極管,、光電二極管,、光纖接收器、光纖放大器,、光學(xué)調(diào)制器,、光學(xué)濾波器等,。
電子元件樣品:電阻器、電容器,、電感器,、變壓器、濾波器,、開關(guān),、繼電器等。
傳感器樣品:溫度傳感器,、壓力傳感器,、光敏傳感器、加速度傳感器,、聲音傳感器,、濕度傳感器等。
半導(dǎo)體噪聲測試涉及的儀器設(shè)備包括:
器件噪聲測試儀器:噪聲分析儀,、功率譜分析儀,、噪聲系數(shù)測量儀、噪聲功率測量儀
器件非線性測試儀器:信號(hào)源,、頻譜分析儀,、功率譜分析儀、互調(diào)失真分析儀
器件功耗測試儀器:直流電源,、功率分析儀,、功率譜分析儀、功耗效率測量儀
器件時(shí)鐘抖動(dòng)測試儀器:頻率計(jì),、頻譜分析儀,、時(shí)鐘抖動(dòng)測量儀、抖動(dòng)峰峰值測量儀
BS EN 60749-16-2003 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第16部分:顆粒沖擊噪聲檢測(PIND)
CEI EN 60749-16-2005 半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.第16部分:粒子沖擊噪聲檢測(PIND).第一版
DIN EN 60749-16-2003 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第16部分:部分沖擊噪聲檢測(PIND)
GB/T 16850.3-2021 光放大器試驗(yàn)方法 第3部分:單波道光放大器噪聲參數(shù)
GOST 18986.23-1980 半導(dǎo)體穩(wěn)壓管 噪聲光譜密度測量方法
GOST 19656.5-1974 超高頻混頻和檢波半導(dǎo)體二極管 噪聲比測量方法
GOST 19656.6-1974 超高頻混頻半導(dǎo)體二極管 標(biāo)準(zhǔn)噪聲系數(shù)測量方法
IEC 60747-18-4-2023 半導(dǎo)體器件.第18-4部分:半導(dǎo)體生物傳感器.無透鏡CMOS光子陣列傳感器噪聲特性的評(píng)估方法
PNS IEC 60749-16-2013 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第16部分:部分沖擊噪聲檢測(PIND)
SJ/T 11846-2022 電壓調(diào)整器低頻噪聲參數(shù)測試方法
中析半導(dǎo)體噪聲測試 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2021-03-15
2023-06-28