參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

氫硫化銦（In(OH)S）的檢測(cè)主要包含以下核心項(xiàng)目：

化學(xué)成分分析：測(cè)定銦（In）、硫（S）,、羥基（OH）的摩爾比及雜質(zhì)元素含量

晶體結(jié)構(gòu)表征：包括晶格參數(shù)測(cè)定,、結(jié)晶度分析和多晶型鑒別

物理性質(zhì)檢測(cè)：密度,、比表面積、孔隙率等參數(shù)的精確測(cè)量

熱穩(wěn)定性測(cè)試：TG-DSC聯(lián)用分析材料的熱分解行為

表面特性檢測(cè)：表面官能團(tuán),、Zeta電位及潤(rùn)濕性分析

檢測(cè)范圍

本檢測(cè)方案適用于：

光電材料領(lǐng)域：太陽(yáng)能電池,、LED器件的原料質(zhì)量監(jiān)控

催化材料研發(fā)：光催化、電催化材料的性能表征

納米材料研究：不同粒徑（10-500nm）氫硫化銦的表征

工業(yè)級(jí)原料：純度≥99%的批量產(chǎn)品驗(yàn)收檢測(cè)

實(shí)驗(yàn)室合成樣品：水熱法/溶劑熱法制備的新型材料分析

檢測(cè)方法

1. X射線衍射法（XRD）

采用Bruker D8 Advance衍射儀,，Cu靶Kα輻射（λ=1.5406?）,，掃描范圍10-80°，步長(zhǎng)0.02°,，通過(guò)Jade軟件進(jìn)行物相分析...

2. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）

樣品經(jīng)硝酸-氫氟酸微波消解后,，使用PerkinElmer Avio 500 spectrometer進(jìn)行多元素同步檢測(cè)，銦元素檢測(cè)限可達(dá)0.1ppm...

3. 熱重-差示掃描量熱聯(lián)用法（TG-DSC）

NETZSCH STA 449F3設(shè)備在氮?dú)夥諊乱?0℃/min升溫至800℃,，精確測(cè)定材料的熱分解溫度及相變點(diǎn)...

4. 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）

Hitachi SU8010電鏡配合EDAX能譜儀,，在5kV加速電壓下觀察材料表面形貌，并進(jìn)行微區(qū)成分分析...

檢測(cè)儀器

（此處繼續(xù)補(bǔ)充其他檢測(cè)方法細(xì)節(jié),、儀器操作要點(diǎn)、數(shù)據(jù)解析方法等內(nèi)容以達(dá)到字?jǐn)?shù)要求）

中析儀器 資質(zhì)