參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

長(zhǎng)度偏差檢測(cè)：測(cè)量范圍0.1-5000mm,，精度±0.01μm，涵蓋線性尺寸與輪廓度分析

直徑公差驗(yàn)證：檢測(cè)φ0.05-600mm軸/孔類(lèi)部件,，圓度誤差≤0.5μm

厚度均勻性評(píng)估：多層材料截面測(cè)量,，分辨率達(dá)0.1μm，支持薄膜（≥5μm）至板材（≤50mm）

孔徑一致性分析：通孔/盲孔檢測(cè)（φ0.1-200mm）,，位置度偏差≤±2μm

平行度/垂直度檢測(cè)：角度公差±3",，空間幾何關(guān)系數(shù)字化建模

檢測(cè)范圍

金屬機(jī)加工件：軸承、齒輪,、液壓閥體等精密部件

注塑成型件：連接器殼體,、醫(yī)療器械組件等薄壁件

陶瓷基復(fù)合材料：半導(dǎo)體晶圓載具、高溫結(jié)構(gòu)件

層壓復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)板,、絕緣層壓制品

微型電子元件：接插件端子,、引線框架等微米級(jí)結(jié)構(gòu)

檢測(cè)方法

檢測(cè)設(shè)備

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：Mitutoyo CRYSTA-Apex S 12000,，配備RENISHAW SP25M掃描探頭,，空間精度(1.9+3L/1000)μm

光學(xué)投影儀：Nikon V-12B，放大倍率50×-500×,，配備數(shù)字圖像處理系統(tǒng)

激光測(cè)微計(jì)

白光干涉儀：Zygo NewView 9000,，垂直掃描范圍1mm，RMS粗糙度測(cè)量能力0.1nm

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

通過(guò)CNAS（注冊(cè)號(hào)L1234）和CMA（編號(hào)20230001）雙重認(rèn)證,，符合ISO/IEC 17025:2017體系要求

配備N(xiāo)IST可溯源標(biāo)準(zhǔn)件,，建立三級(jí)量值傳遞體系，測(cè)量不確定度優(yōu)于UT=0.5μm+0.1L/100mm

檢測(cè)人員持有CMM操作師（ASQ-CMQ/OE）認(rèn)證,，年培訓(xùn)學(xué)時(shí)≥120小時(shí)

數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)符合21 CFR Part 11規(guī)范,，檢測(cè)記錄保存周期≥10年

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)