參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測項(xiàng)目

1. 電子溫度測量：范圍3000-50000K,，精度±2%

2. 離子溫度分析：范圍500-20000K，分辨率0.1eV

3. 中性粒子溫度監(jiān)測：覆蓋200-10000K區(qū)間

4. 等離子體熱流密度：量程0.1-1000W/cm2

5. 軸向/徑向溫度梯度：空間分辨率≤0.1mm

檢測范圍

1. 半導(dǎo)體制造用硅基/化合物晶圓

2. 核聚變裝置第一壁鎢合金材料

3. 航天器熱防護(hù)陶瓷涂層

4. 醫(yī)療低溫等離子體滅菌設(shè)備

5. 工業(yè)電弧爐熔融金屬體系

檢測方法

1. ASTM E305-18 光譜發(fā)射雙線法

2. ISO 13370:2021 激光誘導(dǎo)熒光技術(shù)

3. GB/T 16840.3-2021 靜電探針診斷法

4. ISO 18558:2017 微波干涉測量規(guī)程

5. GB/T 39261-2020 高速熱成像系統(tǒng)標(biāo)定規(guī)范

檢測設(shè)備

1. Fluke TiX580紅外熱像儀：640×480分辨率,，-20~2000℃量程

2. Hamamatsu C10910光譜儀：200-1100nm波長范圍

3. Keysight N6705C直流電源分析儀：±60V/±50A輸出能力

4. Ophir PD300-3W熱流計(jì)：0.01-3000W/cm2測量范圍

5. LaVision PIV系統(tǒng)：10ns雙脈沖激光時(shí)序控制

6. Stanford Research SR570低噪聲前置放大器

7. Kistler 5015B高頻壓力傳感器：100kHz采樣頻率

8. National Instruments PXIe-5162數(shù)字化儀：14位分辨率

9. Thorlabs CCS200光譜校準(zhǔn)光源：250-2500nm輸出

10. Agilent 34461A數(shù)字萬用表：6?位精度測量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)