參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 元素含量分析：測(cè)定銻（Sb）,、鉍（Bi）,、碲（Te）等半金屬純度（0.1ppm-99.99%）

2. 電導(dǎo)率測(cè)試：測(cè)量范圍103-10? S/m（±0.5%精度）

3. 熱導(dǎo)率測(cè)定：覆蓋1-200 W/(m·K)區(qū)間（激光閃射法）

4. 載流子濃度：霍爾效應(yīng)測(cè)試儀測(cè)量101?-102? cm?3載流子密度

5. 磁化率檢測(cè)：振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)測(cè)量10??-10?1 emu/g

檢測(cè)范圍

1. 銻基合金：銻化銦（InSb）、銻化鎵（GaSb）等III-V族化合物

2. 鉍系材料：鉍碲合金（Bi?Te?）,、鉍硒化合物（Bi?Se?）

3. 碲化物半導(dǎo)體：碲化鎘（CdTe）,、碲化鉛（PbTe）

4. 拓?fù)浣^緣體：Bi???Sb?合金體系

5. 熱電材料：摻雜型半金屬熱電轉(zhuǎn)換器件

檢測(cè)方法

1. ASTM E3061-22《電感耦合等離子體質(zhì)譜法測(cè)定高純金屬雜質(zhì)》

2. ISO 22036:2020《X射線熒光光譜法測(cè)定微量元素》

3. GB/T 13301-2021《金屬材料電阻系數(shù)測(cè)量方法》

4. GB/T 22588-2008《閃光法測(cè)量熱擴(kuò)散系數(shù)》

5. ASTM A342/A342M-18《弱磁性材料磁導(dǎo)率測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)》

檢測(cè)設(shè)備

1. Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS：痕量元素分析（檢出限0.01ppb）

2. Netzsch LFA 467 HyperFlash：激光閃射法熱導(dǎo)率測(cè)試

3. Quantum Design PPMS DynaCool：綜合物性測(cè)量系統(tǒng)（電阻率/霍爾效應(yīng)/磁化率）

4. Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀：晶體結(jié)構(gòu)分析（角度精度±0.0001°）

5. Keysight B2902A精密源表：納米級(jí)電輸運(yùn)特性測(cè)試

6. Malvern Panalytical Zetium XRF光譜儀：多元素快速篩查

7. Lake Shore 8400系列振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)：磁學(xué)性能表征

8. Agilent 5500 AFM/STM聯(lián)合系統(tǒng)：表面形貌與電子態(tài)分析

9. Mettler Toledo DSC3差示掃描量熱儀：相變溫度測(cè)定

10. Four Dimensions Inc Model 280SI四探針測(cè)試臺(tái)：薄膜電阻率測(cè)量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)