參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項(xiàng)目

電阻平衡度測試：測量雙橋臂電阻偏差率（±0.5%以內(nèi)）

動態(tài)載流測試：模擬0-50A階躍電流下的電壓波動（精度±0.1mV）

熱漂移分析：-40℃至150℃溫變環(huán)境中的阻值變化率（分辨率0.01Ω/℃）

諧波失真檢測：1kHz-10MHz頻率范圍內(nèi)的THD值（基準(zhǔn)誤差≤0.05%）

機(jī)械應(yīng)力測試：施加5-50N動態(tài)載荷時的電參數(shù)穩(wěn)定性（采樣率1000Hz）

檢測范圍

半導(dǎo)體晶圓材料：硅基/碳化硅基功率器件晶圓

多層復(fù)合導(dǎo)體：銅鋁復(fù)合母線排,、納米銀漿電路

高溫超導(dǎo)材料：YBCO涂層導(dǎo)體,、Bi-2223線材

柔性電子器件：可折疊顯示屏FPC電路、穿戴設(shè)備傳感器

儲能系統(tǒng)組件：鋰電pack連接片,、超級電容器集流體

檢測方法

雙閉環(huán)補(bǔ)償法（ISO 16750-1:2018）：采用四線制Kelvin連接消除接觸電阻影響

脈沖響應(yīng)分析（ASTM B63-20）：10ns級快速脈沖激勵下的瞬態(tài)特性測量

紅外熱成像技術(shù)（IEC 61947-2:2020）：FLIR A6750sc熱像儀進(jìn)行微米級熱點(diǎn)定位

納米壓痕同步檢測（ISO 14577-1:2015）：Hysitron TI 950結(jié)合原位電阻測量

頻率掃描阻抗譜（ASTM E499/E499M-22）：10mHz-15MHz寬頻段阻抗分析

檢測設(shè)備

Keysight 34461A 6?位數(shù)字萬用表：基礎(chǔ)電阻測量（0.001Ω-100MΩ）

Tektronix PA3000功率分析儀：動態(tài)功率參數(shù)捕獲（帶寬5MHz）

Chroma 19032可編程負(fù)載系統(tǒng)：模擬0-600V/0-240A復(fù)雜工況

MTS Criterion萬能試驗(yàn)機(jī)：同步機(jī)械-電性能耦合測試

Zurich Instruments MFLI鎖相放大器：微弱信號檢測（靈敏度1nV）

技術(shù)優(yōu)勢

CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室（注冊號L1234）及ISO/IEC 17025認(rèn)證體系

配備NIST可溯源標(biāo)準(zhǔn)器件（SRM 2877,、SRM 2721a）

自主研發(fā)的ZQ-3000多物理場耦合測試系統(tǒng)（專利號ZL2022XXXXXX）

Class 1000級潔凈環(huán)境與電磁屏蔽室（背景噪聲≤0.5μV）

擁有20名檢測工程師團(tuán)隊(duì)（含5名高級注冊檢測師）

中析儀器 資質(zhì)