參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測項(xiàng)目

主成分含量測定：銫（Cs）含量≥99.5%,，銣（Rb）誤差≤±0.3%，礬基團(tuán)（VO?3?）占比≥98.7%

雜質(zhì)元素分析：Na/K/Ca/Mg等堿金屬雜質(zhì)總量≤200ppm,，重金屬（Pb/Cd/As）單項(xiàng)≤5ppm

晶體結(jié)構(gòu)表征：XRD衍射角偏差＜0.02°,，晶格常數(shù)測量精度達(dá)±0.001?

熱穩(wěn)定性測試：熱重分析（TGA）失重率＜0.5%（25-800℃），DSC相變峰值偏差≤±1.5℃

化學(xué)穩(wěn)定性評估：酸/堿溶液（pH 1-13）浸泡72小時(shí)溶出率＜0.03%

檢測范圍

光學(xué)晶體材料：銫銣礬單晶及多晶光學(xué)元件（透光波段200-5000nm）

催化劑前驅(qū)體：負(fù)載型銫銣礬復(fù)合催化材料（比表面積＞50m2/g）

電子陶瓷基材：微波介質(zhì)陶瓷（介電常數(shù)ε=15-30,，Q值＞5000）

核工業(yè)屏蔽材料：中子吸收復(fù)合體（熱中子截面≥1000barn）

特種玻璃原料：高折射率玻璃（nD＞1.75,，轉(zhuǎn)變溫度Tg≥600℃）

檢測方法

X射線熒光光譜法（XRF）：ASTM D5381-23（定量分析主成分），GB/T 16597-2019（雜質(zhì)元素篩查）

電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）：ISO 17294-2:2022（痕量金屬檢測限0.01ppb）,，GB/T 33086-2016（同位素比值分析）

X射線衍射分析法（XRD）：ISO 20203:2015（晶體結(jié)構(gòu)驗(yàn)證）,，GB/T 23413-2023（晶格參數(shù)計(jì)算）

熱分析聯(lián)用技術(shù)：ASTM E1131-20（TGA-DSC同步測試）,，GB/T 19466.3-2022（氧化誘導(dǎo)期測定）

化學(xué)穩(wěn)定性試驗(yàn)：ISO 175:2021（酸堿腐蝕測試），GB/T 3810.13-2023（溶出物定量分析）

檢測設(shè)備

波長色散X熒光光譜儀：島津EDX-8000,，配備Rh靶X光管（4kW）,，可檢測Be（4）~U（92）元素

高分辨率質(zhì)譜儀：安捷倫8900 ICP-MS/MS，三重四極桿系統(tǒng),，檢出限達(dá)0.1ppt

多晶X射線衍射儀：布魯克D8 ADVANCE,，Cu-Kα輻射（λ=1.5406?），2θ角范圍5°-160°

同步熱分析儀：耐馳STA 449 F5 Jupiter,，溫度范圍RT-1650℃,，TG分辨率0.1μg

全自動(dòng)化學(xué)工作站：梅特勒Titrator T9，支持pH/ISE/光度滴定,，精度±0.001mL

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)