參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

共晶溫度測(cè)定（范圍：600-1200℃）

硼元素含量檢測(cè)（精度：±0.01wt%）

鎳基體晶格畸變率（測(cè)量誤差≤0.05%）

共晶相分布均勻性（SEM分辨率≥5nm）

高溫蠕變性能（測(cè)試載荷：50-200MPa）

熱膨脹系數(shù)測(cè)定（溫度梯度：20-800℃）

界面結(jié)合強(qiáng)度（剪切力測(cè)試范圍：10-500N）

檢測(cè)范圍

鎳基高溫合金（如Inconel 718、Hastelloy X）

硼摻雜復(fù)合材料（B含量0.5-3.0wt%）

電子封裝用鎳硼共晶焊料

核反應(yīng)堆控制棒涂層材料

航天器熱防護(hù)系統(tǒng)復(fù)合層

檢測(cè)方法

差示掃描量熱法（ASTM E967 / GB/T 19466.3）

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法（ISO 17054）

電子背散射衍射分析（ASTM E2627）

高溫蠕變?cè)囼?yàn)（GB/T 2039）

金相定量分析法（GB/T 13298）

同步熱分析（ISO 11358）

檢測(cè)設(shè)備

差示掃描量熱儀：NETZSCH DSC 214 Polyma（溫度精度±0.1℃）

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡：Hitachi SU5000（分辨率0.8nm@15kV）

X射線衍射儀：PANalytical X'Pert3 Powder（2θ范圍：-6°~168°）

高溫蠕變?cè)囼?yàn)機(jī)：Instron 5985（溫度范圍：RT-1200℃）

熱膨脹儀：NETZSCH DIL 402 Expedis（膨脹量分辨率0.125nm）

波長(zhǎng)色散光譜儀：Rigaku ZSX Primus IV（檢測(cè)限0.001wt%）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)