參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

直徑偏差（公差范圍：±0.01mm）

球面半徑誤差（允許偏差：±0.02mm）

表面粗糙度（Ra≤0.4μm，Rz≤3.2μm）

平面度（允許值：0.005mm/m2）

平行度（公差帶：0.01mm）

檢測(cè)范圍

金屬合金圓盤(pán)（如鋁合金,、鈦合金）

工程塑料圓盤(pán)（如PEEK,、尼龍）

陶瓷基復(fù)合材料圓盤(pán)

玻璃制品圓盤(pán)（光學(xué)級(jí)、工業(yè)級(jí)）

橡膠密封圓盤(pán)（氟橡膠,、硅橡膠）

檢測(cè)方法

直徑偏差檢測(cè)：GB/T 1800.2-2020《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范》

球面半徑測(cè)量：ISO 10110-5:2015《光學(xué)元件表面形狀公差》

表面粗糙度評(píng)定：ISO 4287:1997《表面結(jié)構(gòu)輪廓法術(shù)語(yǔ)》

平面度檢測(cè)：ASTM E177-14《幾何尺寸與公差標(biāo)準(zhǔn)》

平行度校準(zhǔn)：GB/T 1184-1996《形狀和位置公差》

檢測(cè)設(shè)備

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（Hexagon COORD3,，精度0.8μm+3μm/m）

激光干涉儀（Renishaw XL-80，分辨率0.001μm）

表面粗糙度儀（Mitutoyo SJ-410,，符合ISO 4288標(biāo)準(zhǔn)）

圓度儀（Taylor Hobson Talyrond 585,，徑向精度0.01μm）

輪廓投影儀（Nikon V-12B,，放大倍率50X-500X）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)