電容耦合系數檢測摘要:電容耦合系數檢測是評估電子元件及材料絕緣性能的重要指標,,涉及介電常數,、介質損耗、頻率響應等核心參數,。檢測涵蓋陶瓷,、薄膜、聚合物等材料,,需依據ASTM,、IEC、GB/T等標準,,采用精密阻抗分析儀及專用夾具,,確保數據準確性和重復性,適用于電容器,、高頻電路基板等產品的質量控制,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外),。
介電常數(εr):測試范圍2.2-10.0@1MHz
介質損耗角正切(tanδ):精度±0.0001@1kHz-1MHz
電容溫度特性(TCC):-55℃~+125℃溫變測試
頻率響應特性:10Hz-10MHz頻段掃描
絕緣電阻(IR):≥1012Ω@500VDC
多層陶瓷電容器(MLCC)
聚丙烯薄膜電容器
高頻電路基板材料(PTFE/FR4)
高壓電力電容器組件
鋁/鉭電解電容器
ASTM D150-11(2018):固體電絕緣材料交流損耗特性及電容率標準試驗方法
IEC 60250:1969:測量電氣絕緣材料高頻性能推薦方法
GB/T 1409-2006:測量電氣絕緣材料在工頻、音頻,、高頻下介電性能
JIS C2138-2007:塑料薄膜介電強度試驗方法
MIL-PRF-123B:軍用規(guī)范電容器的通用要求
Keysight E4990A阻抗分析儀:20Hz-120MHz,,基本精度0.045%
Agilent 4294A精密阻抗分析儀:40Hz-110MHz,四端對測量
Chroma 19032電容測試系統:±0.05%讀數精度,,100Vrms測試電壓
ESPEC PCT-322溫控箱:-70℃~+180℃溫度循環(huán)
Tettex 2963高壓絕緣電阻測試儀:0-10kV可調,,1015Ω量程
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期:7~15工作日,,可加急,。
資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務,。
中析電容耦合系數檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師