粒度等級檢測摘要:粒度等級檢測是評估材料顆粒分布特征的關(guān)鍵分析手段,,涉及粒徑范圍、分布均勻性及形狀參數(shù)等核心指標,。本文依據(jù)國際及國家標準,系統(tǒng)闡述檢測項目、適用材料,、方法原理及設(shè)備選型,,重點涵蓋金屬粉末、化工原料等領(lǐng)域的質(zhì)量控制要點,確保檢測數(shù)據(jù)的準確性與可比性,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
粒徑分布范圍(0.1μm-3000μm)
D10/D50/D90中位徑(±1%測量誤差)
比表面積(0.01-1000m2/g)
顆粒形狀系數(shù)(球形度≥85%)
堆積密度(振實密度與松裝密度比值)
金屬粉末材料(鈦粉、鋁粉,、銅粉等)
陶瓷原料(氧化鋁,、碳化硅、氮化硼等)
制藥顆粒(API原料,、輔料微晶纖維素等)
化工催化劑(分子篩、活性氧化鋁等)
建筑材料(水泥熟料,、石英砂、粉煤灰等)
激光衍射法:ASTM B822-20、ISO 13320:2020
動態(tài)光散射法:ISO 22412:2017,、GB/T 19627-2005
篩分分析法:ASTM E11-20,、GB/T 6003.1-2012
圖像分析法:ISO 13322-2:2021,、GB/T 21649.1-2008
氣體吸附法:ISO 9277:2010,、GB/T 19587-2017
馬爾文帕納科 Mastersizer 3000:激光衍射儀,測量范圍0.01-3500μm
布魯克海文 Nanobrook Omni:動態(tài)光散射儀,,檢測0.3nm-10μm顆粒
麥克儀器 GeoPyc 1365:全自動密度分析儀,,分辨率0.0001g/cm3
島津 SALD-7500nano:納米粒度儀,支持干濕法分散測量
Endecotts Octagon 2000:數(shù)字控制篩分儀,,符合ISO 3310標準
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析粒度等級檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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