參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

顏色分級(jí)：CIE L*a*b*色空間測(cè)量（ΔE≤0.5）

折射率測(cè)定：1.544-1.553（±0.002精度）

密度測(cè)試：2.65g/cm3±0.03（靜水稱重法）

紅外光譜分析：4000-400cm?1波段特征峰識(shí)別

熱導(dǎo)率測(cè)試：1.3-1.5W/(m·K)范圍驗(yàn)證

檢測(cè)范圍

天然紅紫晶原石及成品

合成水熱法生長(zhǎng)晶體

輻照改色處理樣品

鍍膜/填充優(yōu)化材料

仿制玻璃/塑料制品

檢測(cè)方法

ASTM C1655：熱導(dǎo)率測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)方法

ISO 18373-3：合成晶體紅外光譜鑒定規(guī)范

GB/T 16552：珠寶玉石名稱分類標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 16553：珠寶玉石鑒定標(biāo)準(zhǔn)

ISO 11426：貴金屬合金色度測(cè)定法

檢測(cè)設(shè)備

分光光度計(jì)（PerkinElmer Lambda 950）：380-780nm全波段掃描

阿貝折射儀（ATAGO NAR-4T）：1.30-1.71折射率測(cè)量范圍

傅里葉紅外光譜儀（Thermo Nicolet iS50）：4cm?1分辨率配置

熱導(dǎo)儀（C-Therm TCi）：瞬態(tài)平面熱源法測(cè)量系統(tǒng)

電子密度儀（Mettler Toledo XS205）：0.0001g/cm3測(cè)量精度

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)