參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

電導(dǎo)率：測(cè)量范圍1×10??~1×10? S/m

體積電阻率：測(cè)試精度±0.5%（量程1×10??~1×101? Ω·cm）

表面電阻：接觸壓力100g±10%（標(biāo)準(zhǔn)電極間距20mm）

熱穩(wěn)定性：溫度循環(huán)測(cè)試（-40℃~300℃,，循環(huán)次數(shù)≥100次）

機(jī)械強(qiáng)度：拉伸強(qiáng)度測(cè)試（載荷范圍0.1N~50kN）

檢測(cè)范圍

金屬基導(dǎo)電材料：銅/鋁及其合金、銀基復(fù)合材料

高分子導(dǎo)電復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)塑料(CFRP),、石墨烯填充聚合物

納米導(dǎo)電材料：銀納米線薄膜,、碳納米管陣列

功能涂層材料：ITO透明導(dǎo)電膜、抗靜電涂料

電子元器件：PCB電路板,、柔性電極組件

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

ASTM B193-20《導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試規(guī)程》

ISO 3915:2021《塑料基導(dǎo)電材料體積電阻測(cè)定》

IEC 62631-3-1:2016《納米材料介電性能測(cè)試》

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 3048.2-2007《電線電纜電性能試驗(yàn)方法》

GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率試驗(yàn)方法》

GB/T 2423.22-2012《環(huán)境試驗(yàn) 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則》

檢測(cè)設(shè)備

四探針電阻測(cè)試儀（KEITHLEY 2450）：分辨率0.1μΩ·cm

高低溫交變?cè)囼?yàn)箱（ESPEC TSE-11-A）：溫控精度±0.5℃

萬能材料試驗(yàn)機(jī)（INSTRON 5967）：載荷精度±0.5%FS

掃描電子顯微鏡（HITACHI SU5000）：分辨率1.0nm@15kV

阻抗分析儀（Agilent 4294A）：頻率范圍40Hz~110MHz

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)