參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

厚度偏差：±0.1mm（薄板）/±0.5mm（厚板）

寬度公差：±0.05mm（精密件）/±1.0mm（結(jié)構(gòu)件）

角度誤差：±0.05°（精密加工面）/±1°（粗加工面）

圓度偏差：≤0.02mm（軸承部件）/≤0.5mm（管材）

直線度誤差：0.01mm/m（導(dǎo)軌）/0.5mm/m（型材）

檢測(cè)范圍

金屬型材：鋁合金/鈦合金擠壓型材

塑料制品：注塑成型殼體/擠出管材

復(fù)合材料結(jié)構(gòu)件：碳纖維層壓板/蜂窩夾芯板

混凝土預(yù)制件：管樁/梁體截面

電子元件基板：PCB線路板/陶瓷基片

檢測(cè)方法

ASTM E177-14：金屬材料接觸式測(cè)量規(guī)范

ISO 2768-1:1989 非切削件一般公差標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 1804-2000 線性尺寸未注公差等級(jí)

ISO 1101:2017 幾何公差標(biāo)注與驗(yàn)證方法

GB/T 11336-2004 直線度誤差檢測(cè)規(guī)程

檢測(cè)設(shè)備

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：Mitutoyo CRYSTA-Apex S系列（精度0.6+L/400μm）

激光輪廓掃描儀：Hexagon Absolute Arm 7520 SI（采樣率50,000點(diǎn)/秒）

數(shù)顯千分尺：Mitutoyo 293-831-30（分辨率0.001mm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)