波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換檢測(cè)摘要:波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換檢測(cè)是評(píng)估材料或器件在光波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換過(guò)程中性能的關(guān)鍵技術(shù)手段,,主要涉及轉(zhuǎn)換效率、穩(wěn)定性及光譜特性等核心參數(shù),。本文系統(tǒng)闡述檢測(cè)項(xiàng)目,、適用材料范圍、標(biāo)準(zhǔn)化方法及設(shè)備配置,,為光學(xué)器件研發(fā)與質(zhì)量控制提供數(shù)據(jù)支持,。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換效率:測(cè)量范圍200-1100nm,,精度±0.5%
熱穩(wěn)定性測(cè)試:溫度循環(huán)范圍-40℃~150℃,,保持時(shí)間≥24h
光譜響應(yīng)偏差:全波段偏差值≤3%,特征峰偏移量<2nm
量子產(chǎn)率測(cè)定:相對(duì)測(cè)量誤差<1%,,絕對(duì)測(cè)量誤差<5%
老化衰減率:連續(xù)工作1000h后效率衰減≤5%
無(wú)機(jī)熒光粉材料(YAG:Ce3+,、氮化物體系)
量子點(diǎn)復(fù)合材料(CdSe/ZnS核殼結(jié)構(gòu))
LED封裝器件(COB/CSP封裝形式)
激光晶體材料(Nd:YVO4、Ti:Sapphire)
光伏薄膜材料(CIGS,、鈣鈦礦薄膜)
ASTM E2141-21:熒光材料相對(duì)亮度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
ISO 11358-3:2021:高分子材料熱穩(wěn)定性分析規(guī)范
GB/T 26180-2022:發(fā)光二極管光電參數(shù)測(cè)量方法
IEC 62612:2020:固態(tài)照明器件性能要求與測(cè)試
GB/T 18911-2015:液晶顯示器件光電參數(shù)測(cè)量方法
分光光度計(jì)(PerkinElmer Lambda 1050+):波長(zhǎng)范圍175-3300nm
積分球系統(tǒng)(Labsphere LMS-9000):直徑1.5m,,光譜分辨率0.05nm
熒光光譜儀(Horiba Fluorolog-3):時(shí)間分辨率達(dá)200ps
高低溫試驗(yàn)箱(Espec SH-642):溫度波動(dòng)度±0.5℃
量子效率測(cè)試系統(tǒng)(Bentham QE-PV-SCI):光譜響應(yīng)測(cè)量精度±1%
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
中析波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換檢測(cè) - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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