參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 導(dǎo)電性能測(cè)試：測(cè)量體積電阻率（0.01-100μΩ·m）與表面電阻率（10^3-10^12Ω/sq）,，使用四探針?lè)y(cè)定

2. 機(jī)械強(qiáng)度驗(yàn)證：包括拉伸強(qiáng)度（≥200MPa）,、屈服強(qiáng)度及延伸率測(cè)試（應(yīng)變速率0.00025-0.025/s）

3. 耐腐蝕評(píng)估：中性鹽霧試驗(yàn)（48-96h）、二氧化硫腐蝕試驗(yàn)（濃度25±5ppm）

4. 溫升特性分析：通流試驗(yàn)（額定電流1.5倍）監(jiān)測(cè)溫度變化（ΔT≤30K）

5. 表面質(zhì)量檢測(cè)：粗糙度測(cè)量（Ra≤0.8μm）,、鍍層厚度測(cè)定（XRF法精度±0.1μm）

檢測(cè)范圍

1. 金屬基材：銅合金（C11000/C5191）,、鋁合金（6061/7075）、不銹鋼（304/316L）

2. 復(fù)合材料：銀鎳(AgNi10),、銀氧化錫(AgSnO2),、銅石墨(Cu-C)等電接觸材料

3. 電子元件：PCB金手指,、半導(dǎo)體引線框架,、接插件端子

4. 連接器件：高壓開(kāi)關(guān)觸頭、繼電器觸點(diǎn),、電池連接片

5. 表面處理層：鍍金層（0.05-3μm）、鍍銀層（5-20μm）,、化學(xué)鍍鎳層

檢測(cè)方法

1. ASTM B193-20《標(biāo)準(zhǔn)電阻率測(cè)試方法》規(guī)定導(dǎo)體材料直流電阻測(cè)量規(guī)范

2. GB/T 228.1-2021《金屬材料拉伸試驗(yàn)》規(guī)定應(yīng)變速率控制要求

3. ISO 9227:2022《人造大氣腐蝕試驗(yàn)》包含中性鹽霧與循環(huán)腐蝕測(cè)試程序

4. IEC 60512-5-2:2016《電子設(shè)備連接器溫升試驗(yàn)方法》規(guī)定接觸件發(fā)熱量測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

5. GB/T 6462-2005《金屬覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法》明確橫截面金相分析法

檢測(cè)設(shè)備

1. RTS-9型四探針電阻測(cè)試儀：量程10^-6~10^6Ω·cm,，分辨率0.01μΩ·m

2. Instron 5967雙立柱萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)：最大載荷50kN，配備高溫夾具(-70~300℃)

3. Q-FOG CCT1100循環(huán)腐蝕箱：支持鹽霧/干燥/濕熱多模式復(fù)合試驗(yàn)

4. FLIR T865紅外熱像儀：熱靈敏度≤40mK,，測(cè)溫范圍-40~1500℃

5. Mitutoyo SJ-410輪廓儀：Z軸分辨率0.01μm，可測(cè)Ra/Rz/Rmax參數(shù)

6. Fischer XDV-SDD X射線測(cè)厚儀：探測(cè)元素范圍Na-U,，精度±1%

7. Keysight B2902A精密源表：最小電流分辨率10fA，支持脈沖測(cè)試模式

8. Zeiss EVO MA15掃描電鏡：二次電子分辨率3nm,，配備EDS能譜分析模塊

9. Netzsch DIL402C熱膨脹儀：膨脹量測(cè)量精度±0.05μm，最高溫度1600℃

10.HIOKI RM3545電阻計(jì)：四線法測(cè)量模式,，基本精度±0.06%rdg±0.03%fs

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)