參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.厚度測(cè)量：X射線熒光法（0.01-50μm）,、庫侖法（0.1-25μm）、金相顯微鏡法（±0.5μm精度）

2.附著力測(cè)試：劃格法（ASTMD3359）,、剝離法（GB/T5270）,、彎曲試驗(yàn)（ISO1519）

3.孔隙率檢測(cè)：硝酸蒸汽法（ISO10308）、電化學(xué)法（ASTMB798）

4.顯微硬度測(cè)試：維氏硬度計(jì)（HV0.01-HV0.5載荷）

5.成分分析：EDS能譜儀（元素分析精度0.1wt%）,、XPS表面分析（探測(cè)深度2-5nm）

檢測(cè)范圍

1.電子元件：PCB板鍍金層（0.05-3μm）,、連接器鍍鎳層（1-10μm）

2.汽車零部件：活塞環(huán)鍍鉻層（10-200μm）、緊固件鋅鎳合金鍍層（5-25μm）

3.醫(yī)療器械：鈦合金陽極氧化膜（0.5-10μm）,、不銹鋼鈍化膜（2-15nm）

4.五金工具：硬質(zhì)合金刀具TiN涂層（1-5μm）,、模具PVD鍍層（2-20μm）

5.航空航天部件：發(fā)動(dòng)機(jī)葉片熱障涂層（50-500μm）、鎂合金化學(xué)轉(zhuǎn)化膜（1-10μm）

檢測(cè)方法

1.ASTMB568：X射線光譜法測(cè)定鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)

2.ISO3497：金屬鍍層厚度測(cè)量通用規(guī)范

3.GB/T6462：金屬基體上金屬和非金屬覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法

4.ASTMB487：橫截面法測(cè)量金屬及氧化物鍍層厚度

5.ISO1463：金相顯微鏡法測(cè)定金屬鍍層厚度

6.GB/T11378：金屬覆蓋層孔隙率檢驗(yàn)方法

7.ASTMB117：鹽霧試驗(yàn)評(píng)估鍍層耐腐蝕性能

檢測(cè)設(shè)備

1.FischerXDV系列X射線測(cè)厚儀：分辨率0.001μm，適用多層復(fù)合鍍層分析

2.BrukerS1TITANXRF分析儀：多元素同步檢測(cè)（原子序數(shù)13-92）

3.ZEISSAxioImagerM2m金相顯微鏡：5000倍光學(xué)放大+EDS聯(lián)用系統(tǒng)

4.Elcometer456涂層測(cè)厚儀：磁感應(yīng)/渦流雙原理測(cè)量（0-2000μm）

5.KeysightNanoIndenterG200：納米壓痕硬度測(cè)試（載荷分辨率50nN）

6.ThermoScientificK-AlphaXPS：表面元素化學(xué)態(tài)分析（空間分辨率3μm）

7.Q-FOGCRH鹽霧試驗(yàn)箱：循環(huán)腐蝕測(cè)試（CCT/Prohesion模式）

8.MitutoyoHM-200顯微硬度計(jì)：自動(dòng)加載系統(tǒng)（10gf-1kgf）

9.HitachiSU5000場(chǎng)發(fā)射電鏡：二次電子/背散射電子雙模式成像

10.PARSTAT4000電化學(xué)工作站：交流阻抗譜法評(píng)估鍍層防護(hù)性能

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)