金膜電容器檢測(cè)摘要:金膜電容器檢測(cè)是評(píng)估其電氣性能與可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié),,主要涵蓋電容量,、耐壓強(qiáng)度,、損耗特性等核心參數(shù),。通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試方法及精密儀器分析,,可驗(yàn)證產(chǎn)品是否符合IEC,、GB/T等規(guī)范要求,。本文系統(tǒng)闡述檢測(cè)項(xiàng)目,、適用材料范圍,、國(guó)際/國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)備選型要點(diǎn)。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
1.電容量偏差測(cè)試:測(cè)量標(biāo)稱值與實(shí)測(cè)值偏差(5%以內(nèi))
2.耐壓強(qiáng)度試驗(yàn):直流電壓500V-10kV持續(xù)60s無(wú)擊穿
3.損耗角正切值(tanδ):頻率1kHz下≤0.002
4.絕緣電阻測(cè)試:施加100VDC時(shí)≥10GΩ
5.溫度特性分析:-55℃~+125℃范圍內(nèi)容量變化率≤15%
1.高頻電路用超薄金膜電容器(厚度≤0.5mm)
2.高壓電源模塊用多層堆疊式金膜電容
3.航天級(jí)耐輻射金膜密封電容器
4.柔性電路基板用可彎曲金膜電容
5.高溫環(huán)境用陶瓷基板金膜電容
1.IEC60384-8:2018《固定電容器第8部分:分規(guī)范1類陶瓷介質(zhì)固定電容器》
2.GB/T6346.14-2015《電子設(shè)備用固定電容器第14部分:分規(guī)范表面安裝金屬化聚酯膜介質(zhì)直流固定電容器》
3.ASTMD150-11(2018)《固體電絕緣材料的交流損耗特性和介電常數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》
4.JISC5101-1:2016《電子設(shè)備用固定電容器試驗(yàn)方法通則》
5.MIL-PRF-123B《電容器的通用規(guī)范》
1.KeysightE4980A精密LCR表:測(cè)量頻率20Hz至2MHz的阻抗參數(shù)
2.Chroma19032耐壓測(cè)試儀:輸出0-5kVAC/DC電壓
3.ThermotronS-1.2溫控試驗(yàn)箱:溫度范圍-70℃~+180℃
4.Agilent4338B毫歐表:測(cè)量10μΩ~100kΩ電阻值
5.HiokiIM3536介損測(cè)試儀:分辨率0.00001tanδ
6.Fluke1587絕緣電阻測(cè)試儀:最大量程1000GΩ
7.TektronixAFG31000函數(shù)發(fā)生器:輸出頻率1μHz~120MHz
8.OmicronBode100頻響分析儀:相位精度0.1
9.ESPECPCT-120氣候試驗(yàn)箱:溫濕度交變控制
10.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡:5000倍表面形貌分析
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
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