參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1.電荷密度測定：測量范圍0.01-100μC/m，分辨率0.001μC/m

2.介電常數(shù)測試：頻率范圍1kHz-10MHz,，精度0.05ε

3.表面電阻率分析：量程10^3-10^16Ωsq,，溫度控制0.5℃

4.粒度分布檢測：粒徑范圍0.1-5000μm，分級精度1%

5.礦物成分分析：XRF元素檢測限0.01%-100%,，EDS面掃描分辨率≤3nm

檢測范圍

1.金屬礦石：鈦鐵礦,、金紅石、鋯英砂等重礦物分選

2.非金屬礦石：長石,、石英,、云母等硅酸鹽礦物提純

3.工業(yè)廢料：粉煤灰中未燃碳分離、冶金渣金屬回收

4.電子廢棄物：PCB板貴金屬富集體分選

5.稀有金屬礦砂：鉭鈮礦,、鋰輝石等戰(zhàn)略性資源精選

檢測方法

ASTMD257-14：固體絕緣材料直流電阻測試標準

ISO9276-2:2014：粒度分析結果表述規(guī)范

GB/T13301-2019：金屬礦石導電特性測試方法

ASTME1915-11：X射線熒光光譜元素分析標準

GB/T3780.4-2017：炭黑材料體積電阻率測定

檢測設備

CoulombMaster-3000：高精度接觸式電荷密度計,，分辨率0.001μC/m

DielectroProX1：寬頻介電譜儀（1kHz-10MHz），溫控精度0.1℃

Resistomat6800：全自動表面/體積電阻測試系統(tǒng)（10^3-10^16Ω）

MalvernMastersizer3000：激光粒度分析儀（0.01-3500μm）

ThermoFisherARLQUANT'X：EDXRF元素分析儀（Na-U元素檢測）

FEIQuanta650FEG：場發(fā)射環(huán)境掃描電鏡（1nm分辨率）

HVR-V30型高壓靜電分選機（0-100kV可調(diào)電場強度）

SartoriusMA37：微量水分測定儀（精度0.001mg）

Agilent4294A：精密阻抗分析儀（40Hz-110MHz）

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務,。

中析儀器 資質(zhì)