參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1.化學(xué)成分分析：測定CaO（40-50%）,、Na₂O（5-15%）、SiO₂（30-40%）及雜質(zhì)元素（Fe,、Mg,、Al等）含量范圍。

2.晶體結(jié)構(gòu)表征：XRD分析晶胞參數(shù)（a=6.5-7.0,b=8.9-9.3,c=5.1-5.5,β=90-95）,，計算空間群P2₁/m,。

3.熱穩(wěn)定性測試：TG-DSC聯(lián)用測定分解溫度（800-1000℃）、吸放熱峰位置及相變區(qū)間,。

4.微觀形貌觀測：SEM/EDS聯(lián)用分析顆粒形貌（粒徑1-50μm）、表面元素分布及孔隙率,。

5.力學(xué)性能測試：維氏硬度（3-5GPa）,、抗壓強度（80-120MPa）及斷裂韌性（1.5-2.0MPam^1/2）,。

檢測范圍

1.地質(zhì)礦物樣品：變質(zhì)巖、矽卡巖中的單斜納鈣石原生礦物,。

2.工業(yè)原料：陶瓷釉料,、耐火材料用合成單斜納鈣石粉體。

3.復(fù)合材料：鈉鈣硅系玻璃纖維增強相中的晶態(tài)組分,。

4.考古標(biāo)本：古代玻璃制品風(fēng)化層中的次生礦物相,。

5.環(huán)境樣品：工業(yè)固廢中單斜納鈣石相的含量鑒定。

檢測方法

1.X射線衍射法（ASTMD5380/GB/T17412.2）：采用Rietveld精修法定量分析物相組成,。

2.X射線熒光光譜法（ISO12677/GB/T21114）：熔片法制樣測定主量元素含量,。

3.熱重-差示掃描量熱法（ASTME1131/GB/T19466）：氮氣氛圍下10℃/min升溫速率測試。

4.掃描電子顯微鏡法（ISO16700/GB/T27788）：背散射電子成像結(jié)合能譜面掃分析,。

5.電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ISO11885/GB/T36590）：氫氟酸微波消解處理樣品,。

檢測設(shè)備

1.RigakuSmartLabX射線衍射儀：配備HyPix-3000探測器，角度精度0.0001,。

2.PANalyticalAxiosMAXX熒光光譜儀：4kW端窗銠靶管,，可測元素范圍B-U。

3.NetzschSTA449F5同步熱分析儀：溫度范圍RT-1600℃,，TG分辨率0.1μg,。

4.HitachiSU5000場發(fā)射掃描電鏡：分辨率1.0nm@15kV，配備OxfordX-MaxN150能譜儀,。

5.PerkinElmerAvio550ICP-OES：雙觀測模式同步測定70余種元素,。

6.ShimadzuHMV-G21ST顯微硬度計：載荷范圍10-2000gf，自動壓痕測量系統(tǒng),。

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)