電致發(fā)光檢測摘要:電致發(fā)光檢測是通過電場激發(fā)材料產(chǎn)生光輻射的定量分析技術(shù),,主要用于評估光電材料的性能與可靠性,。核心檢測要點(diǎn)包括發(fā)光效率,、光譜特性,、穩(wěn)定性及缺陷分析等參數(shù),需結(jié)合國際標(biāo)準(zhǔn)與精密儀器完成數(shù)據(jù)采集與驗(yàn)證,。該技術(shù)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件,、顯示面板及新能源材料等領(lǐng)域。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
1.發(fā)光光譜范圍:測量波長380-780nm可見光波段及近紅外區(qū)域(800-1600nm),,精度1nm
2.發(fā)光效率:量化流明效率(lm/W)和外量子效率(EQE),測試范圍0.1-100cd/A
3.色坐標(biāo)CIE1931:測定x,y坐標(biāo)值偏差≤0.005
4.電流-電壓特性:掃描范圍10V@1μA-1A分辨率
5.壽命衰減測試:連續(xù)工作1000小時(shí)光強(qiáng)衰減率≤5%
6.表面缺陷分析:識別≥5μm的暗斑或亮斑缺陷
1.有機(jī)發(fā)光二極管(OLED):包括AMOLED顯示面板,、柔性照明器件
2.量子點(diǎn)材料:QD-LED器件及量子點(diǎn)薄膜組件
3.無機(jī)半導(dǎo)體:GaN基LED芯片,、Micro-LED陣列
4.鈣鈦礦發(fā)光器件:二維/三維鈣鈦礦光伏組件
5.電致發(fā)光顯示模組:車載顯示屏、工業(yè)儀表盤
ASTME1303-95(2020):電致發(fā)光器件絕對強(qiáng)度測量規(guī)范
ISO14707:2021表面化學(xué)分析-輝光放電光譜法
GB/T18911-2015液晶顯示器件光電參數(shù)測量方法
IEC62341-6-2:2020有機(jī)發(fā)光二極管環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程
SJ/T11399-2019半導(dǎo)體照明器件測試方法
1.Keithley2400源表:提供0.1fA-10A電流輸出及1μV電壓分辨率
2.OceanOpticsUSB4000光譜儀:200-1100nm波長范圍,,光學(xué)分辨率0.35nm
3.AdmesyKronos-PRO光度計(jì):支持CIE1931/1976雙色度系統(tǒng)測量
4.HamamatsuC12132成像亮度計(jì):500萬像素CCD,,動態(tài)范圍120dB
5.KeysightB2902A精密電源:最小電壓步進(jìn)10nV的IVL測試系統(tǒng)
6.ThermoFisherESCALABXi+XPS:表面元素化學(xué)態(tài)分析精度0.1eV
7.AgilentCary7000分光光度計(jì):紫外-近紅外全波段透射/反射測量
8.LeicaDM8000M顯微鏡:搭配365nm紫外激發(fā)模塊的缺陷定位系統(tǒng)
報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù),。
中析電致發(fā)光檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,,請咨詢在線工程師
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