單向電路檢測摘要:單向電路檢測是驗證電子元器件單向?qū)щ娞匦缘年P鍵質(zhì)量控制環(huán)節(jié),,主要涵蓋反向耐壓、正向?qū)ㄌ匦约皽囟确€(wěn)定性等核心參數(shù)測試,。本文依據(jù)ASTM,、IEC及GB/T系列標準規(guī)范,,系統(tǒng)闡述二極管、整流模塊等半導體器件的檢測項目,、方法及設備選型要求,,為電子制造業(yè)提供專業(yè)技術(shù)參考。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
1. 反向耐壓測試(VRRM):測量最大可承受反向電壓(0-5000V DC),,擊穿電壓偏差≤±5%
2. 正向?qū)▔航担╒F):額定電流下電壓降測量(0.3-3.0V),精度±1mV
3. 反向漏電流(IR):在80% VRRM下測量漏電流(nA級),,分辨率≤1nA
4. 溫度特性分析:-55℃至+175℃工作溫度下的參數(shù)漂移量測
5. 響應時間測試:反向恢復時間(trr)測量范圍10ns-1μs,,時間分辨率≤1ns
1. 硅基/碳化硅功率二極管:包括FRD、肖特基二極管等分立器件
2. 橋式整流模塊:單相/三相整流橋堆及功率模塊
3. 光耦器件輸出端:光電晶體管/光電二極管輸出單元
4. IGBT模塊續(xù)流二極管:1200V/1700V等級配套二極管
5. 太陽能光伏組件:旁路二極管及防逆流保護單元
1. ASTM F1234-19:半導體器件反向擊穿特性測試規(guī)程
2. IEC 60747-1:2022 分立器件通用測試規(guī)范第5章
3. GB/T 5678-2020 電力電子器件靜態(tài)參數(shù)測試方法
4. JESD22-A108F 溫度循環(huán)加速壽命試驗標準
5. MIL-STD-750-1 Method 1021 軍用級二極管測試流程
1. Keysight B1505A功率器件分析儀:最大3000V/1000A測試能力,,支持HCI模式掃描
2. Tektronix DMM6500數(shù)字萬用表:6?位分辨率,,10nA級微小電流測量
3. Chroma 19032-C高溫測試系統(tǒng):-70℃至+300℃溫控精度±0.5℃
4. Hioki PW3390功率分析儀:帶寬5MHz,支持trr時間波形捕獲
5. ESPEC T3系列恒溫恒濕箱:溫度變化速率15℃/min可調(diào)
6. Fluke 289真有效值萬用表:0.025%基本直流精度
7. Agilent N6705B直流電源模塊:100V/20A輸出能力
8. Omicron Bode100頻響分析儀:10μHz至50MHz阻抗特性分析
9. Thermo Scientific CL24熱成像儀:空間分辨率1.1mrad@30cm
10. GW Instek GDS-3504數(shù)字示波器:500MHz帶寬,,5GS/s采樣率
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務,。
中析單向電路檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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2023-06-28