低真空檢測摘要:低真空檢測是評估材料或系統(tǒng)在10^3Pa至10^-1Pa壓力范圍內(nèi)密封性及穩(wěn)定性的關(guān)鍵手段,廣泛應(yīng)用于航空航天,、電子封裝及材料科學(xué)領(lǐng)域,。核心檢測要點包括泄漏率量化、氣體成分分析及壓力動態(tài)變化監(jiān)測,,需結(jié)合國際標準與精密儀器確保數(shù)據(jù)可靠性,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
1. 泄漏率檢測:測量范圍1×10^-6 Pa·m3/s至1×10^-3 Pa·m3/s(ASTM E493)
2. 壓力穩(wěn)定性測試:監(jiān)測10^-3 Pa至10^-1 Pa區(qū)間壓力波動(ISO 3570)
3. 氣體成分分析:識別H?O,、O?,、N?等殘留氣體濃度(GB/T 31480)
4. 真空度維持時間:記錄系統(tǒng)從10^-2 Pa升至10^1 Pa所需時長(GB/T 3163)
5. 密封材料滲透率:評估橡膠/金屬密封件的氣體滲透系數(shù)(ISO 15105-1)
1. 金屬密封件:法蘭接頭、真空閥門組件
2. 高分子材料薄膜:聚酰亞胺真空袋,、氟橡膠密封圈
3. 真空電子器件:X射線管,、光電倍增管
4. 半導(dǎo)體封裝材料:晶圓級封裝腔體、MEMS器件
5. 真空鍍膜設(shè)備組件:磁控濺射靶材室,、蒸鍍腔體
1. ASTM E493-22:質(zhì)譜分析法測定系統(tǒng)總泄漏率
2. ISO 3570:2020:靜態(tài)升壓法評估真空系統(tǒng)密封性
3. GB/T 31480-2015:四極桿質(zhì)譜儀定量分析殘余氣體
4. GB/T 3163-2007:差壓法測量真空容器壓力維持能力
5. ISO 15105-1:2021:恒壓法測定聚合物薄膜透氣系數(shù)
1. Agilent Technologies MSD 5977B:四極桿質(zhì)譜儀(氣體成分分析)
2. INFICON UL1000 Fab:氦質(zhì)譜檢漏儀(靈敏度1×10^-12 Pa·m3/s)
3. Leybold PHOENIX L300i:渦輪分子泵組(極限真空5×10^-7 Pa)
4. MKS Instruments 925B:電容薄膜規(guī)(量程0.1 Pa至133 kPa)
5. Pfeiffer Vacuum HPT 200:熱陰極電離規(guī)(測量下限1×10^-8 Pa)
6. Edwards TIC-301:冷陰極電離計(快速響應(yīng)壓力監(jiān)測)
7. VACUU-BRAND DVR 5:數(shù)字式真空計(多通道數(shù)據(jù)采集)
8. Canon ANELVA MRH-2000:殘余氣體分析系統(tǒng)(全量程氣體識別)
9. Shimadzu GC-2030:氣相色譜儀(痕量氣體分離檢測)
10. Kurt J. Lesker KJLC 360i:復(fù)合真空校準系統(tǒng)(動態(tài)流量法校準)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析低真空檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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