參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 平面度誤差：公差范圍±0.001-0.05mm（依據(jù)GB/T 1184-1996）。

2. 表面粗糙度：Ra值0.1-6.3μm（ISO 4287:1997）,。

3. 平行度偏差：允許誤差≤0.005mm/m（GB/T 1958-2017）,。

4. 垂直度驗(yàn)證：角度公差±0.01°（ASTM E177-14）。

5. 微觀形貌分析：波紋度Wt≤2μm（ISO 12085:1996）。

檢測(cè)范圍

1. 鑄鐵/鑄鋼類基礎(chǔ)平臺(tái)與機(jī)床導(dǎo)軌,。

2. 鋁合金/鈦合金航空結(jié)構(gòu)件裝配面,。

3. 陶瓷/碳纖維復(fù)合材料精密模具工作面。

4. 工程塑料注塑成型定位基準(zhǔn)面,。

5. 超硬合金刀具刃口支撐平面,。

檢測(cè)方法

1. 平面度測(cè)量采用激光干涉法（ISO 12781-1:2011）或電子水平儀法（GB/T 20991-2007）。

2. 粗糙度測(cè)試依據(jù)觸針式輪廓儀法（GB/T 1031-2009）與白光干涉法（ASTM E2244-11）,。

3. 平行度校準(zhǔn)執(zhí)行三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)比對(duì)法（ISO 10360-2:2009）,。

4. 垂直度驗(yàn)證采用直角尺配合塞規(guī)法（GB/T 6091-2004）。

5. 微觀形貌分析使用共聚焦顯微鏡（ISO 25178-2:2012）,。

檢測(cè)設(shè)備

1. Mitutoyo CRYSTA-Apex S系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)：精度±(1.9+L/250)μm,。

2. Taylor Hobson Form Talysurf PGI NOVUS輪廓儀：分辨率0.8nm。

3. Zygo NewView 9000白光干涉儀：垂直分辨率0.1nm,。

4. Renishaw XL-80激光干涉系統(tǒng)：線性測(cè)量精度±0.5ppm,。

5. Keyence VHX-7000數(shù)字顯微鏡：5000倍超景深觀測(cè)。

6. Hexagon Absolute Arm 7軸測(cè)量臂：便攜式三維掃描,。

7. Mahr Federal MarSurf LD260粗糙度儀：多參數(shù)一體化分析,。

8. Wyler Zerotronic電子水平儀：角度分辨率0.001°。

9. Nikon NEXIV VM-500影像測(cè)量?jī)x：亞像素邊緣識(shí)別技術(shù),。

10. Zeiss O-INSPECT復(fù)合式測(cè)量系統(tǒng)：光學(xué)與接觸式混合探測(cè),。

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)