參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 反向飽和電流密度：測(cè)量范圍1pA/cm2~10mA/cm2,，精度±0.5%

2. 擊穿電壓閾值：測(cè)試電壓0~10kV，步進(jìn)精度0.1V

3. 溫度特性曲線：-55℃~200℃溫控范圍內(nèi)漏電流變化率

4. 時(shí)間穩(wěn)定性測(cè)試：持續(xù)加載80%額定電壓下72小時(shí)電流漂移量

5. 動(dòng)態(tài)響應(yīng)特性：納秒級(jí)脈沖反向電流上升/下降時(shí)間測(cè)量

檢測(cè)范圍

1. 半導(dǎo)體材料：硅基晶圓,、砷化鎵(GaAs),、碳化硅(SiC)襯底

2. 電子元件：高壓二極管、IGBT模塊,、晶閘管器件

3. 光伏器件：太陽能電池PN結(jié),、薄膜電池組件

4. 絕緣材料：氧化鋁陶瓷基板、聚酰亞胺薄膜

5. 特殊應(yīng)用器件：X射線管靶材,、粒子探測(cè)器電極

檢測(cè)方法

1. ASTM F1241-22《半導(dǎo)體器件反向漏電流標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試規(guī)程》

2. IEC 60747-5:2020《分立器件-光電器件第5部分：擊穿特性測(cè)試》

3. GB/T 4937-2022《半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法》第12章

4. ISO 16750-4:2023《道路車輛電氣電子設(shè)備環(huán)境條件》電壓瞬變測(cè)試

5. JESD22-A108F《電子器件溫度-偏置壽命試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》

檢測(cè)設(shè)備

1. Keysight B1505A功率器件分析儀：最大10kV/1500A測(cè)試能力,，支持μA級(jí)漏電流測(cè)量

2. Tektronix Keithley 4200A-SCS參數(shù)分析儀：集成SMU模塊實(shí)現(xiàn)pA級(jí)微弱電流采集

3. Chroma 19032耐壓測(cè)試系統(tǒng)：符合IEC61010-1標(biāo)準(zhǔn)的5kVAC/6kVDC絕緣測(cè)試

4. ESPEC T-12恒溫恒濕箱：溫度波動(dòng)度±0.3℃，支持-70℃~180℃循環(huán)測(cè)試

5. Hioki ST5520表面電阻計(jì)：四端子法測(cè)量103~101?Ω范圍體電阻率

6. Fluke 1587 FC絕緣電阻測(cè)試儀：1000V DC下最高10TΩ測(cè)量精度

7. Agilent N6705B直流電源分析儀：20bit分辨率電壓/電流輸出模塊

8. Thermo Scientific CEDOX高壓探頭：100:1分壓比,，帶寬DC-100MHz

9. Omicron Bode100頻響分析儀：10μHz~40MHz阻抗特性分析能力

10. HIOKI PW3390功率分析儀：0.05%基本精度支持瞬態(tài)功率測(cè)量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)