參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 粒徑分布測(cè)量：檢測(cè)范圍0.1-2000μm,，分辨率±1%，支持D10/D50/D90多模態(tài)分析,。

2. 顆粒濃度測(cè)定：動(dòng)態(tài)范圍0.1-10000 mg/m3,，誤差≤±3% FS。

3. 折射率分析：測(cè)量精度±0.002（n=1.33-1.70）,，支持液體/固體樣品,。

4. 散射光強(qiáng)校準(zhǔn)：波長(zhǎng)632.8nm±2nm，功率穩(wěn)定性≤±0.5%/h,。

5. 溫度適應(yīng)性測(cè)試：工作溫度范圍5-40℃,，濕度耐受性10-85% RH。

檢測(cè)范圍

1. 氣溶膠顆粒：PM2.5/PM10監(jiān)測(cè),、霧化藥物遞送系統(tǒng)評(píng)價(jià),。

2. 納米材料：碳納米管、金屬氧化物納米顆粒分散性分析,。

3. 制藥粉末：API（活性藥物成分）粒度均勻性驗(yàn)證,。

4. 環(huán)境顆粒物：大氣粉塵、工業(yè)排放物成分鑒別,。

5. 工業(yè)粉體：陶瓷原料,、鋰電池正極材料批次一致性控制,。

檢測(cè)方法

1. ASTM F660-20：標(biāo)準(zhǔn)粒子尺寸校準(zhǔn)程序。

2. ISO 21501-4:2018：光散射法顆粒計(jì)數(shù)器性能驗(yàn)證,。

3. GB/T 19077-2016：粒度分布激光衍射法通則,。

4. ISO 13320:2020：激光衍射粒度分析儀操作規(guī)范。

5. GB/T 36054-2018：納米材料粒度分布測(cè)試方法,。

檢測(cè)設(shè)備

1. TSI APS 3321：空氣動(dòng)力學(xué)粒徑譜儀,，支持0.5-20μm實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

2. Malvern Mastersizer 3000：全自動(dòng)激光衍射儀,，量程0.01-3500μm,。

3. Beckman Coulter LS 13 320 XR：濕法/干法雙模系統(tǒng)，符合ISO 13320標(biāo)準(zhǔn),。

4. HORIBA LA-960V2：廣域粒度分析儀,，集成溫度控制模塊。

5. Sympatec HELOS/KR：模塊化設(shè)計(jì),，支持QICPIC動(dòng)態(tài)成像聯(lián)用,。

6. Shimadzu SALD-7500nano：納米級(jí)高靈敏度檢測(cè)器（0.003-3000μm）。

7. Microtrac MRB CAMSIZER X2：動(dòng)態(tài)圖像分析與激光散射復(fù)合系統(tǒng),。

8. Anton Paar Litesizer 500：多參數(shù)分析儀（粒度/Zeta電位/分子量）,。

9. RION KS-23F：便攜式氣溶膠粒徑譜儀（0.25-32μm）。

10. PSS Nicomp 380 ZLS：納米顆粒與Zeta電位同步測(cè)量系統(tǒng),。

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)