參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 正向壓降（VF）：測(cè)試電流1mA-100mA范圍下的導(dǎo)通電壓值（典型值0.2V-1.5V）

2. 反向擊穿電壓（VR）：施加反向電壓至漏電流達(dá)1mA時(shí)的臨界值（50V-1000V）

3. 結(jié)電容（Cj）：測(cè)量頻率1MHz下的寄生電容（0.1pF-5pF）

4. 反向恢復(fù)時(shí)間（trr）：測(cè)試負(fù)載電流10mA時(shí)的恢復(fù)時(shí)間（ns級(jí)精度）

5. 熱阻（RθJA）：計(jì)算結(jié)溫與環(huán)境溫差比（單位℃/W）

檢測(cè)范圍

1. 鍺基點(diǎn)接觸二極管（Ge材料）

2. 硅肖特基二極管（Si材料）

3. 砷化鎵高頻二極管（GaAs材料）

4. 金絲鍵合封裝器件

5. 陶瓷/玻璃封裝器件

檢測(cè)方法

1. GB/T 6571-2016《半導(dǎo)體器件分立器件測(cè)試方法》

2. IEC 60747-1:2022《半導(dǎo)體器件通用規(guī)范》

3. ASTM F1247-22《半導(dǎo)體結(jié)溫測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)》

4. JESD22-A108F《溫度循環(huán)試驗(yàn)》

5. MIL-STD-750E《軍用半導(dǎo)體器件試驗(yàn)方法》

檢測(cè)設(shè)備

1. Keysight B1505A功率器件分析儀：IV特性曲線掃描

2. Tektronix MSO64示波器：ns級(jí)瞬態(tài)響應(yīng)測(cè)量

3. Agilent 4284A LCR表：高頻電容參數(shù)測(cè)試

4. ThermoStream T-2600溫控系統(tǒng)：-65℃~+300℃熱沖擊試驗(yàn)

5. ESPEC PL-3KPH氣候箱：濕度范圍10%~98%RH

6. X-Ray XT H225ST顯微成像系統(tǒng)：內(nèi)部結(jié)構(gòu)無損檢測(cè)

7. Cascade Summit 12000探針臺(tái)：晶圓級(jí)參數(shù)測(cè)試

8. Hioki IM3590阻抗分析儀：材料介電特性分析

9. Fluke 6105B輻射測(cè)試系統(tǒng)：EMC兼容性驗(yàn)證

10. Olympus LEXT OLS5000激光顯微鏡：表面形貌3D重構(gòu)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)