參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 折射率精度：測量范圍1.8-2.4（@589nm）,，允許偏差±0.0003

2. 表面均勻性：全口徑波前畸變≤λ/10（λ=632.8nm）

3. 膜層厚度：多層鍍膜單層厚度誤差≤±2nm

4. 表面粗糙度：Ra≤0.5nm（掃描區(qū)域50μm×50μm）

5. 抗反射性能：400-700nm波段反射率≤0.5%

檢測范圍

1. 高折射光學(xué)玻璃（H-LAK系列,、H-ZF類）

2. 樹脂復(fù)合鏡片（聚碳酸酯、MR系列材料）

3. 納米結(jié)構(gòu)增透鍍膜（TiO?/SiO?多層膜系）

4. 半導(dǎo)體光電器件（GaN基LED外延片）

5. 激光晶體元件（Nd:YAG,、LiNbO?晶體加工面）

檢測方法

1. ASTM E1967-19橢偏法測定薄膜折射率

2. ISO 13666:2019眼科光學(xué)鏡片基本要求

3. GB/T 7962.1-2010無色光學(xué)玻璃測試方法

4. ISO 10110-5光學(xué)元件表面缺陷評定

5. GB/T 26331-2010光學(xué)薄膜激光損傷閾值測量

檢測設(shè)備

1. J.A. Woollam M-2000UI寬譜橢偏儀：400-1700nm全自動薄膜分析

2. Zygo Verifire HD激光干涉儀：0.1nm級面形精度測量

3. Bruker ContourGT-X3白光干涉儀：三維表面粗糙度分析

4. Shimadzu UV-3600Plus分光光度計：190-2500nm透反射測試

5. Veeco Dektak XT臺階儀：?級膜厚剖面測量

6. Olympus LEXT OLS5000激光共聚焦顯微鏡：120nm橫向分辨率

7. Agilent 8700 LDIR激光紅外成像系統(tǒng)：微區(qū)成分分析

8. OptoTest OPMM-SC偏振相關(guān)損耗測試儀

9. Trioptics OptiCentric雙光路偏心儀

10. Coherent Pharos飛秒激光損傷閾值測試系統(tǒng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)