參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測項(xiàng)目

1. 幾何輪廓精度：葉身型線偏差≤±0.05mm,，前后緣半徑公差±0.02mm

2. 厚度分布：弦長方向厚度梯度變化量≤0.1mm/10mm

3. 表面粗糙度：進(jìn)氣邊Ra≤0.8μm，葉背區(qū)域Ra≤1.6μm

4. 殘余應(yīng)力：表層壓應(yīng)力層深度≥50μm,，最大拉應(yīng)力≤200MPa

5. 微觀組織：晶粒度等級(jí)≥8級(jí)（ASTM E112）,，碳化物尺寸≤5μm

檢測范圍

1. 鈦合金航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片（TC4/TC11）

2. 鎳基高溫合金燃?xì)廨啓C(jī)葉片（IN718/IN738）

3. 復(fù)合材料風(fēng)電葉片（碳纖維/玻璃纖維）

4. 不銹鋼泵機(jī)葉片（17-4PH/304L）

5. 鋁合金壓縮機(jī)葉片（7075/6061）

檢測方法

1. 幾何測量：ISO 1101幾何公差標(biāo)準(zhǔn)配合ASME B89.3.4三坐標(biāo)測量規(guī)范

2. 殘余應(yīng)力測試：ASTM E915 X射線衍射法及GB/T 24179盲孔法

3. 無損檢測：ISO 17635滲透檢測與ASTM E317超聲波探傷

4. 金相分析：GB/T 13298顯微鏡檢驗(yàn)及GB/T 6394晶粒度測定

5. 表面完整性：ISO 25178三維表面形貌分析標(biāo)準(zhǔn)

檢測設(shè)備

1. Hexagon Global Advantage三坐標(biāo)測量機(jī)：空間精度(0.9+L/350)μm

2. GOM ATOS Q三維光學(xué)掃描儀：點(diǎn)距0.01mm，單幅測量時(shí)間＜0.5s

3> Olympus EPOCH 650超聲波探傷儀：頻率范圍0.5-30MHz

4. Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀：應(yīng)力測量精度±20MPa

5. Keyence VHX-7000數(shù)碼顯微鏡：5000倍超景深觀測

6. Zwick Roell Z100材料試驗(yàn)機(jī)：載荷精度±0.5%FS

7. Mitutoyo SJ-410表面粗糙度儀：Ra測量范圍0.05-10μm

8> Thermo Fisher ARL EQUINOX 1000光譜儀：元素分析精度±1ppm

9. Instron CEAST沖擊試驗(yàn)機(jī)：能量分辨率0.01J

10. Zeiss Axio Imager M2m金相顯微鏡：1500倍明暗場成像

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)