參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

1. 純度測定：總稀土含量≥99.5%，非稀土雜質(zhì)總量≤0.3%

2. 粒度分布：D10≤1μm, D50=1-50μm, D90≤100μm（依據(jù)應(yīng)用分級）

3. 化學(xué)成分：Fe≤50ppm, Ca≤30ppm, O≤800ppm, C≤100ppm

4. 物理性能：振實密度≥3.5g/cm3, 比表面積0.5-10m2/g

5. 放射性核素：U+Th總量≤10ppm（核級材料要求≤1ppm）

檢測范圍

1. 高純鉺粉（4N/5N級）：用于激光晶體,、光纖放大器

2. 納米級鉺粉（粒徑＜100nm）：特種陶瓷添加劑

3. 合金添加劑用鉺粉：鎂/鋁合金強化相制備

4. 核工業(yè)用鉺粉：中子吸收材料（釓鉺合金）

5. 稀土永磁材料用鉺粉：釹鐵硼磁體晶界擴散劑

檢測方法

1. ICP-MS法（ASTM E1479）：痕量元素定量（檢出限0.01ppm）

2. X射線熒光光譜（GB/T 12690-2020）：主量元素快速分析

3. 激光衍射法（ISO 13320:2020）：粒度分布測定

4. BET氮吸附法（GB/T 19587-2017）：比表面積測試

5. 惰性氣體熔融法（ASTM E1409）：氧氮聯(lián)測（精度±2ppm）

6. γ能譜法（GB/T 11743-2013）：放射性核素篩查

檢測設(shè)備

1. Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS：多元素同步分析（質(zhì)量數(shù)范圍2-260amu）

2. Malvern Mastersizer 3000：干濕法粒度分析（0.01-3500μm）

3. Micromeritics ASAP 2460：比表面及孔隙度分析儀（0.35-500nm孔徑）

4. Bruker S8 TIGER XRF：波長色散型熒光光譜儀（4kW Rh靶）

5. LECO ONH836：氧氮氫聯(lián)測儀（檢測下限0.1ppm）

6. Shimadzu EDX-7000：能量色散X射線譜儀（Na-U元素分析）

7. Horiba LA-960V2：激光散射粒度儀（10nm-3mm測量范圍）

8. CANBERRA HPGe γ譜儀：高純鍺探測器（能量分辨率＜2.0keV）

9. Mettler Toledo XSE204天平：微量稱量（0.01mg精度）

10. Netzsch STA 449 F5：同步熱分析儀（TG-DSC聯(lián)用）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)