參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

　　中析研究所可依據(jù)相應(yīng)法向發(fā)射率檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)通過(guò)光譜分析等方法進(jìn)行分析測(cè)試服務(wù),，亦可根據(jù)客戶需求設(shè)計(jì)方案,，為客戶提供非標(biāo)檢測(cè)服務(wù)。法向發(fā)射率檢測(cè)費(fèi)用：樣品初檢后結(jié)合客戶檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià),，樣品量大?。壕唧w樣品量需要根據(jù)客戶的檢測(cè)項(xiàng)目來(lái)決定，詳情您可以咨詢工程師,。

試驗(yàn)范圍

　　法向發(fā)射率檢測(cè)樣品一般包括：

　　建筑材料：玻璃,、陶瓷、塑料,、金屬材料,、涂層材料、纖維材料,、木材等,。

　　光學(xué)元件：透鏡、棱鏡,、濾光片,、反射鏡、分光器,、衍射光柵等,。

　　熱隔離材料：隔熱膜,、隔熱涂層、保溫材料,、隔熱板等,。

　　薄膜材料：金屬薄膜、氧化物薄膜,、聚合物薄膜,、陶瓷薄膜、生物薄膜等,。

　　涂層材料：防腐涂層,、耐磨涂層、隔熱涂層,、阻燃涂層,、導(dǎo)熱涂層、光學(xué)涂層等,。

　　電子元件：半導(dǎo)體器件,、電路板、LED芯片,、顯示屏等,。

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

　　ASTM E307-1972(2014) 高溫下法向光譜發(fā)射率試驗(yàn)方法

　　ASTM E423-1971(2014) 不導(dǎo)電試樣升溫時(shí)法向光譜發(fā)射率試驗(yàn)方法

　　GB/T 18497.2-2019 工業(yè)加熱用電紅外發(fā)射器的特性 第2部分:中長(zhǎng)波電紅外發(fā)射器

中析報(bào)告注意事項(xiàng)

　　· 報(bào)告無(wú)服務(wù)方簽字人簽名無(wú)效(簽名應(yīng)均為同一人);

　　· 未加蓋“北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所”科研測(cè)試專用章無(wú)效;

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